Facilité d’acquisition des données pour tous les types d’échantillons

Le JSM-IT210 de JEOL est le microscope électronique à balayage le plus compact de sa catégorie.

Ce microscope est doté de modes innovants qui simplifient l’acquisition automatique d’images et d’analyses en vous permettant de sélectionner facilement vos zones d’intérêt. Le JSM-IT210 représente la nouvelle génération des microscopes électroniques à balayage, alliant compacité, puissance et automatisation, vous libérant ainsi de la nécessité d’être constamment présent devant l’appareil.

Caractéristiques

Le nouveau mode : Specimen Exchange Navi

Suivre le mode Specimen Exchange Navi (SNS) pour placer l’échantillon, il s’agit d’un système de navigation par étape. Cet accompagnement élimine le risque d’erreurs humaines et accélère le processus de changement d’échantillon. Il constitue un outil essentiel en maximisant le temps consacré à l’analyse.

Avec le mode Specimen exchange Navi, rentrez votre échantillon en toute sécurité. Une échelle de mesure de la hauteur de l'échantillon est à disposition et vous guide.

Se préparer à l’observation pendant le pompage

Démarrage automatique de l’observation

*1 Le système de navigation (SNS) est en option.
*2 Le SNSLS est optionnel. Il peut être utilisé en même temps que le SNS.
*3 La caméra dans la chambre d’observation est optionnelle.

De l’image optique à l’image électronique sans discontinuité Zeromag

fonction Zeromag

* Le système de navigation (SNS, en option) est nécessaire pour l’acquisition d’images optiques.

EDS intégré pour une composition élémentaire en temps réel pendant l’observation* Live Analysis (analyse en direct)


L’analyse en direct est une fonction qui affiche le spectre EDS ou les cartes d’éléments en
temps réel pendant l’observation de l’image. Cette fonction peut faciliter la recherche et fournir une alerte pour les éléments ciblés.

Les spectres des éléments sonr détectés à partrir de l'écran d'observation et les résultats sont affichés en temps réel.

* Les modèles A (analyse) ou LA ( Low vacuum et analyse) sont requis pour l’analyse de la composition élémentaire avec EDS.

Automatisation pour une meilleure productivité Simple SEM

Ce microscope automatise la collecte d’images à de multiples endroits, conditions et grossissements.

Outils pour l’amélioration de la vitesse d’analyse

Déplacez les positions d’analyse avec précision.

EDS standard grand diamètre : 60 mm2 – Pour une analyse rapide

  • Analyse rapide

Le détecteur EDS standard de 60 mm² du JSM-IT210 permet d’obtenir une analyse de meilleur qualité en considérablement moins de temps que ne le permettent des détecteurs de surface et donc d’angle solide plus restreint. L’analyse multi-points peut également être réalisée plus efficacement.

  • Application aux échantillons sensibles aux dégâts d’irradiation

Un détecteur EDS de petite surface (et donc d’angle solide faible) nécessite un courant important pour l’analyse. Les échantillons sensibles au faisceau d’électrons sont alors endommagés par l’irradiation, ce qui affecte négativement la cartographie élémentaire chimique.

L’EDS de 60 mm² permet d’acquérir une cartographie d’éléments chimiques avec un courant de sonde plus faible.
Cela permet une analyse rapide tout en minimisant les dommages causés par les dégâts d’irradiation.

Des cartes d’éléments rapides et claires

L’EDS 60 mm² permet d’obtenir une cartographie claire des éléments, même en une minute de mesure.

Image d’électrons secondaires

image d'électrons secondaires

Affichage superposé multi-couleur

Affichage superposé multi-couleur
Si-K
S-K
Fe-K
Ni-K

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