Equipement d'Optique Electronique

CRYO ARM™ 300S – Microscope cryo-électronique 300 kV pour la biologie structurale

MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARM™ 300S – Microscope cryo-électronique 300 kV pour la biologie structuraleJEOL Europe2026-08-03T19:46:18+02:00

CRYO ARM™ 200S – Microscope cryo-électronique 200 kV pour la biologie structurale

MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARM™ 200S – Microscope cryo-électronique 200 kV pour la biologie structuraleJEOL Europe2026-07-28T12:53:21+02:00

GRAND ARM^TM 3 (300 kV)

MET pour les matériaux

GRAND ARM^TM 3 (300 kV)JEOL Europe2026-07-27T16:22:09+02:00

Fonction Live 3D

live 3D, Microscopes Électroniques à balayage

Fonction Live 3DJEOL Europe2026-07-15T15:55:14+02:00

ACE eye™ – TEM automatisé pour semi-conducteurs

MET FEG 200 kV, MET pour les matériaux

ACE eye™ – TEM automatisé pour semi-conducteursJEOL Europe2026-07-15T10:43:39+02:00

LazEdge – système Laser intégré dans un MEB

Système Laser intégré dans un MEB

LazEdge – système Laser intégré dans un MEBJEOL Europe2026-07-13T12:40:33+02:00

NEOARM (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM (200 kV)JEOL Europe2026-06-08T11:41:32+02:00

NEOARM monochromaté (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM monochromaté (200 kV)JEOL Europe2026-01-16T08:53:26+01:00

MARS (JEM-Z200MF) – microscope électronique à lentille objectif sans champ magnétique

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

MARS (JEM-Z200MF) – microscope électronique à lentille objectif sans champ magnétiqueJEOL Europe2026-01-16T08:55:49+01:00

Système Pulse pour imagerie STEM

Produits IDES

Système Pulse pour imagerie STEMJEOL Europe2026-01-20T15:31:12+01:00

JSM-IT710HR

MEB à effet de champ

JSM-IT710HRJEOL Europe2026-04-10T16:49:49+02:00

JSM-IT810

MEB à effet de champ

JSM-IT810JEOL Europe2026-01-09T09:47:21+01:00

Tempo

Produits IDES

TempoJEOL Europe2026-01-20T15:31:38+01:00

F2 – MET-FEG (200 kV)

Évolution informatique - MET, MET FEG 200 kV, MET pour les matériaux

F2 – MET-FEG (200 kV)JEOL Europe2026-01-16T09:00:39+01:00

CRYO F2 (200 kV)

Évolution informatique - MET, MET pour la cryo et la biologie

CRYO F2 (200 kV)JEOL Europe2026-01-16T09:01:07+01:00

JEM-2100Plus (200 kV)

Évolution informatique - MET, MET LaB6 200kV, MET pour les matériaux

JEM-2100Plus (200 kV)JEOL Europe2026-01-16T08:56:25+01:00

JEM-2100Plus Cryo (200 kV)

MET pour la cryo et la biologie

JEM-2100Plus Cryo (200 kV)JEOL Europe2026-01-16T09:10:44+01:00

XtaLAB Synergy-ED

Microscopes Électroniques en Transmission

XtaLAB Synergy-EDJEOL Europe2024-06-10T13:03:03+02:00

JEM-120i (120 kV)

Évolution informatique - MET, MET LaB6 120kV, MET pour la cryo et la biologie, MET pour les matériaux

JEM-120i (120 kV)JEOL Europe2026-07-28T12:43:26+02:00

JEM-120i Amiante (META)

Évolution informatique - MET, MET LaB6 120kV, MET pour les matériaux

JEM-120i Amiante (META)JEOL Europe2026-05-13T15:32:00+02:00

MEB de table JCM-7000

MEB grande chambre multifonctions

MEB de table JCM-7000bsi2026-01-08T18:11:44+01:00

Multibeam JIB-PS500i

FIB et MEB-FIB à double colonne

Multibeam JIB-PS500iJEOL Europe2026-07-27T16:18:21+02:00

Multibeam JIB-4700F

FIB et MEB-FIB à double colonne, Ion slicer

Multibeam JIB-4700FJEOL Europe2026-01-16T12:33:14+01:00

CRYO-FIB : CryoLameller

FIB et MEB-FIB à double colonne

CRYO-FIB : CryoLamellerJEOL Europe2026-07-28T12:42:01+02:00

DrySD™ Gather-X – détecteur EDS sans fenêtre

Détecteur EDS

DrySD™ Gather-X – détecteur EDS sans fenêtreJEOL Europe2026-04-10T17:03:11+02:00

JSM-IT210

MEB grande chambre multifonctions

JSM-IT210JEOL Europe2026-04-10T16:49:01+02:00

JEOL PyJEM

Logiciels, Microscopes Électroniques en Transmission

JEOL PyJEMJEOL Europe2026-01-16T09:02:39+01:00

JSM-IT510
avec fonction Simple SEM™

MEB grande chambre multifonctions

JSM-IT510
avec fonction Simple SEM™JEOL Europe2026-04-10T16:49:12+02:00

Caméra haute sensibilité SightSKY

Caméras

Caméra haute sensibilité SightSKYJEOL Europe2026-07-28T12:41:30+02:00

Spectromètre de photoélectrons JPS-9030

Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS)

Spectromètre de photoélectrons JPS-9030JEOL Europe2026-01-16T10:59:52+01:00

Logiciels SerialEM, TomoJ, IMOD, Chimera, TEMography™, Shot Meister et JADAS

Logiciels, Microscopes Électroniques en Transmission

Logiciels SerialEM, TomoJ, IMOD, Chimera, TEMography™, Shot Meister et JADASJEOL Europe2026-01-16T09:03:08+01:00

Modulateur de dose électronique (EDM)

Produits IDES

Modulateur de dose électronique (EDM)JEOL Europe2026-07-27T16:16:40+02:00

Luminary Micro : excitation laser d’échantillons

Produits IDES

Luminary Micro : excitation laser d’échantillonsJEOL Europe2026-07-27T16:16:58+02:00

Relativity : système de sous-trame électrostatique

Produits IDES

Relativity : système de sous-trame électrostatiqueJEOL Europe2026-07-27T16:17:33+02:00

Luminary : MET ultra-rapide / dynamique

Produits IDES

Luminary : MET ultra-rapide / dynamiqueJEOL Europe2026-01-20T15:55:25+01:00

JAMP-9510F nanosonde Auger à émission de champ

Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS)

JAMP-9510F nanosonde Auger à émission de champJEOL Europe2026-01-16T11:00:29+01:00

Microsondes JXA-iHP200F et JXA-iSP100

Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS), Fluorescence X (JSX-1000S)

Microsondes JXA-iHP200F et JXA-iSP100JEOL Europe2026-01-16T11:41:47+01:00

JED-2300 Analysis Station Plus

EDS

JED-2300 Analysis Station PlusJEOL Europe2026-01-16T09:03:39+01:00

JED-2300/2300F (EDS SDD pour MEB)

EDS intégrée pour MEB, Évolution informatique - MEB à effet de champ

JED-2300/2300F (EDS SDD pour MEB)JEOL Europe2025-03-10T12:36:44+01:00