Equipement d'Optique Electronique

Spectromètre JPS-9030

Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS)

Spectromètre JPS-9030JEOL Europe2021-12-06T12:16:50+01:00

GRAND ARM^TM 2 (300 kV)

MET corrigé 300 kV, MET pour les matériaux

GRAND ARM^TM 2 (300 kV)JEOL Europe2022-01-14T13:03:29+01:00

CRYO ARM^TM 300 II

MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARM^TM 300 IIJEOL Europe2022-06-03T15:14:09+02:00

NEOARM (200 kV)

MET corrigé 200 kV, MET pour les matériaux

NEOARM (200 kV)JEOL Europe2022-01-25T11:42:41+01:00

NEOARM monochromaté (200 kV)

MET corrigé 200 kV, MET pour les matériaux

NEOARM monochromaté (200 kV)JEOL Europe2022-01-14T13:04:53+01:00

CRYO ARM 200

MET 200 kV, MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARM 200JEOL Europe2022-06-03T16:15:17+02:00

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kV

Évolution informatique - MET, MET FEG 200kV, MET pour les matériaux

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kVJEOL Europe2022-07-04T12:36:58+02:00

CRYO F2 – cryo-EM

Évolution informatique - MET, MET pour la cryo et la biologie

CRYO F2 – cryo-EMJEOL Europe2022-07-04T12:37:10+02:00

JEM-ACE200F

MET 200 kV, MET FEG 200kV

JEM-ACE200FJEOL Europe2021-08-10T08:37:57+02:00

JEM-2100Plus

Évolution informatique - MET, MET 200 kV, MET LaB6 200kV, MET pour les matériaux

JEM-2100PlusJEOL Europe2022-07-04T12:35:19+02:00