Présentation

Solution analytique intégrée avec :

  • Détecteur SDD pour éléments légers
  • Fort taux de comptage
  • Résolution 129 eV
  • Eléments détectables Be à U
  • Cartographie élémentaire
  • Simulation spectrale
  • Correction de dérive interactive
  • Analyse de particules

Logiciel d’analyse de particules PA3 pour microscope électronique à balayage (MEB)

Le logiciel d'analyse de particules PA3 de JEOL permet d’automatiser la détection, l'analyse EDS et la classification des particules ou autres éléments de vos échantillons. Entièrement intégré au système EDS de nos microscopes électroniques à balayage, PA3 augmente la rapidité d’acquisition ainsi que la productivité en fournissant des mesures automatisées sur de grandes zones d'un échantillon ou plusieurs échantillons.

Que ce soit en fabrication, en contrôle qualité ou en R&D, le logiciel PA3 accroît les capacités d'inspection de l’échelle du millimètre au nanomètre.
Lors des analyses de routine, l’utilisateur peut définir des programmes dédiés à ses applications pour la détection de particules et les classifications chimiques. Grâce à ces programmes, la gestion des analyses devient simple et rapide même pour un utilisateur sans expérience. Des bibliothèques supplémentaires sont disponibles et répondent à diverses normes de l'industrie, telles que :

  • l’analyse des caractéristiques métalliques (Metal Feature Analysis - MFA). Pour l'analyse des inclusions dans l'acier avec classification et rapport conforme à la norme ISO 4967,
  • l’analyse de poudres pour la fabrication additive (impression 3D métal),
  • l’analyse de la propreté des composants et des systèmes automobiles (Road Vehicle Cleanliness Library - RVCLB). Pour l'analyse des particules de pièces automobiles avec classification et rapport conforme à la norme ISO 16232 (ou VDA19),
  • l’analyse des résidus de tirs d'armes à feu (Gun Shot Residues – GSR ISO 17025) avec classification et rapport conforme à la norme ASTM E1588.

Pour optimiser les routines de caractérisation des particules, des fonctions avancées intégrées incluent :

  • la correction de la dérive,
  • l’utilisation des informations de forme pour inclure/exclure les particules des analyses EDS,
  • l'alignement automatique de l'axe du canon à électrons pour contrôler les changements de luminosité et l'arrêt de l'analyse lorsqu'un nombre spécifié de particules est détecté,
  • la reconnaissance et le traitement de particules chevauchants deux champs d’observation.

Les résultats de la morphologie des particules et de leur composition chimique peuvent être traités et visualisés de plusieurs manières (histogramme, nuages ​​de points, tableau Microsoft Excel, fichier Word, PowerPoint et PDF) pour des rapports adaptés à vos besoins.

Une version hors ligne du logiciel est disponible pour traiter les données sur un autre ordinateur PC.

EDS SDD pour microscope électronique à balayage