Comment sécuriser la préparation de cryo‑lamelles à partir d’un échantillon vitrifié jusqu’au cryo‑MET ?
Avec le CryoLameller, vous préservez l'intégrité de l'échantillon et réduisez les risques tout au long de la préparation des cryo‑lamelles.
La préparation de cryo‑lamelles est l’étape où se produisent la plupart des échecs en cryo‑EM
Perte d'échantillon, risques de dévitrification, contamination, dépendance à l'opérateur… Quel est actuellement votre plus grand défi dans la préparation des cryo‑lamelles ?
Retour sur l’ANF RIME 2026 à Dijon
La présentation des solutions JEOL pour la vEM a mis en lumière l'importance de la segmentation des données en microscopie électronique volumique (vEM).
Nouveau spectrometre : SXES XLR (jusqu’à 35eV)
Accédez à une nouvelle dimension d’analyse des matériaux avec le SXES, capable de révéler avec précision l’état des liaisons chimiques.
JEOL à L’École de Printemps
L'opportunité d’échanger avec des experts en microcaractérisation et de partager autour des dernières avancées technologiques.
🎉 Inauguration du CRYO ARM™ 200 à Rennes
Le cryo-microscope électronique CRYO ARM™ 200 constitue désormais la base d’une plateforme de cryo-microscopie électronique, une unité d’appui à la recherche en biologie et en santé de l’université de Rennes, du CNRS et de l’Inserm.
Retrouvez le NEOSCOPE au centre de Microcaractérisation R. Castaing à Toulouse pour l’École de Printemps 2026
L’équipe JEOL participe à l'École de Printemps du ClubMEB - Association Midi-Pyrénéenne de micro et nano caractérisations avec l’installation du MEB de table JCM-7000 et des sessions d'essai le 2 avril 2026.
JEOL était présent à FormNext : additive manufacturing
Depuis 2 ans, l’équipe JEOL est présente à Francfort pour Formnext. Cette exposition dédiée aux constructeurs nous permet de rencontrer de nombreux utilisateurs spécialisés en fabrication additive.
Présentation du JEM-120i, le dernier MET 120 kV de JEOL
Les participants ont pu découvrir le microscope en live et les dernières innovations de JEOL dans le domaine de la microscopie : Grille SiN, mode STEM, EDS, corrélative…
JEOL sera présente aux journées pédagogiques du GN-MEBA
Retrouvez l'équipe JEOL pour vous informer sur les microsondes de Castaing et l'imprimante 3D métal JAM-5200EBM.
