Bienvenue sur JEOL (EUROPE) SAS
JEOL est le leader mondial dans les domaines de la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET), la préparation d’échantillons, la spectrométrie de masse, la spectrométrie RMN…
Nous fournissons des solutions spécifiques et adaptées aux attentes de nos clients, depuis les analyses de routine jusqu’aux appareils de pointe dans tous les domaines scientifiques, des nanotechnologies à la biologie.
Recherche sur jeol.fr ▼ACTUALITÉS
Retrouvez le NEOSCOPE au centre de Microcaractérisation R. Castaing à Toulouse pour l’École de Printemps 2026
L’équipe JEOL participe à l'École de Printemps du ClubMEB - Association Midi-Pyrénéenne de micro et nano caractérisations avec l’installation du MEB de table JCM-7000 et des sessions d'essai le 2 avril 2026.
JEOL était présent à FormNext : additive manufacturing
Depuis 2 ans, l’équipe JEOL est présente à Francfort pour Formnext. Cette exposition dédiée aux constructeurs nous permet de rencontrer de nombreux utilisateurs spécialisés en fabrication additive.
Présentation du JEM-120i, le dernier MET 120 kV de JEOL
Les participants ont pu découvrir le microscope en live et les dernières innovations de JEOL dans le domaine de la microscopie : Grille SiN, mode STEM, EDS, corrélative…
POSTER
In-situ SEM-SXES analysis of Si anode chemical state change during charge-discharge cycling
Nous avons installé un système d’observation et d’analyse in situ pour les SSB sur un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d’un spectrometre SXES. Les multiples cycles de charge-décharge in situ ont permis de saisir les changements morphologiques de l’anode (Silicium) et l’état de lithiation et de délithiation pendant les cycles.
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APPLICATION
Préparation par FIB-MEB de lame MET pour un circuit intégré 3D NAND
Le FIB-MEB est une technologie combinant des procédés de gravure par faisceau d’ions Ga+ et des fonctions d’observation et d’analyse par faisceau d’électrons. Cette caractéristique permet une préparation précise des échantillons MET, et un contrôle visuel simultané de la coupe transversale pendant le procédé. Le FIB-MEB est ainsi largement utilisé pour préparer des échantillons dans des zones précises, notamment dans l’industrie des semi-conducteurs où la miniaturisation des composants constitue un défi majeur.
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Film d’élastomère
Le mince film de PDMS est utilisé en microfluidique pour le développement de puces organiques.
| L’association Cercle des microscopistes JEOL promeut les échanges techniques et scientifiques entre les utilisateurs de microscopes électroniques JEOL. Elle organise les journées CMJ pendant lesquelles sont exposées les dernières avancées techniques et de multiples applications en matière de microscopie électronique. > voir les événements CMJ  |
