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JEOL est le leader mondial dans les domaines de la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET), la préparation d’échantillons, la spectrométrie de masse, la spectrométrie RMN…
Nous fournissons des solutions spécifiques et adaptées aux attentes de nos clients, depuis les analyses de routine jusqu’aux appareils de pointe dans tous les domaines scientifiques, des nanotechnologies à la biologie.
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Merci pour cette belle édition d’Asbestonomy 2026 !
Chez JEOL, nous sommes fiers de contribuer, grâce à nos solutions analytiques, aux avancées scientifiques et techniques qui participent à une meilleure maîtrise des risques.
POSTER
In-situ SEM-SXES analysis of Si anode chemical state change during charge-discharge cycling
Nous avons installé un système d’observation et d’analyse in situ pour les SSB sur un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d’un spectrometre SXES. Les multiples cycles de charge-décharge in situ ont permis de saisir les changements morphologiques de l’anode (Silicium) et l’état de lithiation et de délithiation pendant les cycles.
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BROCHURE
Semiconductor analysis solutions by mass spectrometry with IA
JMS-T2000GC semiconductor package
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JEOL NEWS
Une sélection d’applications en biologie, sciences des matériaux, géologie, chimie… publiées dans la revue JEOL NEWS
Intestin grêle et trachée de souris
Images en électrons secondaires (SE) des microvillosités de l'intestin grêle d'une souris et de sa trachée, avec microscope électronique à balayage multifonctions et MEB à effet de champ JEOL.
