Description du projet

spectromètre à fluorescence X JSX-1000S

Présentation

Le JSX-1000S est un spectromètre à fluorescence X qui permet une analyse élémentaire (F….U) rapide et simple de tout type d’échantillon (liquide, solide ou poudreux) dans une plage de concentrations allant de 100% à des niveaux inférieurs à quelques ppm.

Ce spectromètre est équipé des fonctions d’analyse qualitative et quantitative (méthode FP, courbe de calibration) ainsi que des programmes dédiés d’analyse d’éléments spécifiques, tel que RoHs ou autre contrôle qualité (pétrolier, minier, etc.). Cet appareil est personnalisable afin de couvrir une large gamme d’analyse.

JSX-1000 en action

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(4 min 25)

Simple de mise en œuvre

Cet appareil est utilisable par des personnes qualifiées ou non qualifiées. La gestion du spectromètre se fait par écran tactile. Les résultats s’obtiennent avec un minimum de ‘clics

Haute sensibilité et passage de nombreux échantillons

Le spectromètre est constitué d’un détecteur SDD sans azote liquide, d’un nouveau système optique combiné à des filtres appropriés pour gérer une large gamme d’énergie et ainsi produire des solutions spécialisées pour l'industrie et la recherche. Le spectromètre peut être placé sous vide pour améliorer la sensibilité sur les éléments légers et sur la quantification des éléments traces.

JSX-1000S optical system

Des analyses très sensibles (quelques ppm) sur un large spectre :

correspondance d'éléments pour chaque filtre

spectre du JSX-1000S

Solutions applicatives personnalisées

Des solutions spécifiques, automatiques basées sur l'analyse de la fluorescence par rayons X (XRF) permettent d'obtenir des performances analytiques maximales. Vous obtiendrez, rapidement, des résultats fiables en sélectionnant juste l’icône adéquat.

écran du JSX-1000S

CARACTERISTIQUES

Mg~U
F~U (option)

5 à 50 kV, 1 mA

Rh

Silicon drift detector (SDD)

300 mm (D) × 80 mm (H)

AIR / système de vide en option

Analyse Qualitative (Automatique, KLM marqueur, pic somme recherche d'éléments)
Analyse Quantitative (méthode FP, courbe de calibration)

Analyse RoHS (Cd, Pb,Cr, Br, Hg)

solution simplifiée et personnalisée

logiciel de création de rapport

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

GALERIE

Télécharger les notes d'application

Film Thickness by Thin Film FP Method
Quantitative and Qualitative Analysis of Inorganic Elements in Plastic by FP Method
Quantitative Analysis of Oxides using the FP Method
Qualitative and Quantitative Analysis of Metal Alloys by FP Method
Analysis with separation of As and Pb in Iron and Steel is possible
Test/Analysis of Foreign Substances on Resin surface by X-ray analysis
Analysis of cracks in brass piping parts