window.dataLayer = window.dataLayer || []; function gtag(){dataLayer.push(arguments);} gtag('js', new Date()); gtag('config', 'UA-207507723-1'); Passer au contenu
FacebookLinkedInTwitterYouTube
  • JEOL Ltd.
  • CONNECT
  • Français
  • Polski
  • Czech
  • Magyar
JEOL Logo
  • PRODUITS
    • Equipement d’Optique Electronique
      • Microscopes électroniques à balayage
      • Microscopes électroniques en transmission
      • FIB et MEB-FIB à double colonne
      • Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS)
      • EDS intégrée pour MEB
    • Spectroscopie Analytique
      • Spectromètres de masse
      • Résonance Magnétique Nucléaire
    • Spectrométrie X
      • SXES
      • Fluorescence X (JSX-1000S)
    • Préparation d’échantillons
      • Plasma cleaner
      • Polisseur ionique
      • Métalliseur / Évaporateur Carbone
    • Contrôle de l’environnement des salles
    • Équipement semi-conducteur
      • Lithographie par faisceau d’électrons
    • Fabrication additive
    • Équipement industriel pour la formation de couches minces
  • SAV / SUPPORT
    • SAV / support clientèle
    • Support technique
    • Prestations particulières
  • APPLICATIONS
  • VIDÉOS
  • CONTACT
  • PRODUITS
    • Equipement d’Optique Electronique
      • Microscopes électroniques à balayage
      • Microscopes électroniques en transmission
      • FIB et MEB-FIB à double colonne
      • Analyse de surface (nanosonde Auger, microsonde EPMA, XPS)
      • EDS intégrée pour MEB
    • Spectroscopie Analytique
      • Spectromètres de masse
      • Résonance Magnétique Nucléaire
    • Spectrométrie X
      • SXES
      • Fluorescence X (JSX-1000S)
    • Préparation d’échantillons
      • Plasma cleaner
      • Polisseur ionique
      • Métalliseur / Évaporateur Carbone
    • Contrôle de l’environnement des salles
    • Équipement semi-conducteur
      • Lithographie par faisceau d’électrons
    • Fabrication additive
    • Équipement industriel pour la formation de couches minces
  • SAV / SUPPORT
    • SAV / support clientèle
    • Support technique
    • Prestations particulières
  • APPLICATIONS
  • VIDÉOS
  • CONTACT
  • PRODUITS
    • Equipement d’Optique Electronique
      • Microscopes électroniques à balayage
      • Microscopes électroniques en transmission
      • Analyse de surface (nanosonde Auger…)
      • EDS intégrée pour MEB
    • Spectroscopie Analytique
      • Spectromètres de masse
      • Résonance Magnétique Nucléaire
    • Spectrométrie X
      • SXES
      • Fluorescence X (JSX-1000S)
    • Préparation d’échantillons
      • Plasma cleaner
      • Polisseur ionique
      • Métalliseur / Évaporateur Carbone
    • Contrôle de l’environnement des salles
    • Équipement semi-conducteur
      • Lithographie par faisceau d’électrons
    • Fabrication additive
    • Équipement industriel pour la formation de couches minces
  • SAV / SUPPORT
    • SAV / support clientèle
    • Support technique
    • Prestations particulières
  • APPLICATIONS
  • VIDÉOS
  • CONTACT

Microscopes électroniques en transmission

Accueil/Français/Microscopes électroniques en transmission
Microscopes électroniques en transmissionJEOL Europe2023-01-23T15:16:38+01:00

MET corrigés 200 kV et 300 kV

JEOL Europe2022-10-18T12:27:56+02:00
présentation du Grand ARM 2

GRAND ARMTM 2 (300 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

GRAND ARMTM 2 (300 kV)

JEOL Europe2023-02-02T12:41:43+01:00
présentation du NEOARM

NEOARM (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM (200 kV)

JEOL Europe2023-02-02T12:43:40+01:00
présentation du NEOARM monochromaté

NEOARM monochromaté (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM monochromaté (200 kV)

MET pour les matériaux

JEOL Europe2022-10-18T12:27:56+02:00
présentation du Grand ARM 2

GRAND ARMTM 2 (300 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

GRAND ARMTM 2 (300 kV)

JEOL Europe2023-02-02T12:41:43+01:00
présentation du NEOARM

NEOARM (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM (200 kV)

JEOL Europe2023-02-02T12:43:40+01:00
présentation du NEOARM monochromaté

NEOARM monochromaté (200 kV)

MET corrigés 200 kV et 300 kV, MET pour les matériaux

NEOARM monochromaté (200 kV)

JEOL Europe2022-10-11T17:40:45+02:00
présentation du F2

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kV

Évolution informatique - MET, MET FEG 200 kV, MET pour les matériaux

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kV

JEOL Europe2023-02-02T12:47:59+01:00
présentation du JEM-2100Plus

JEM-2100Plus

Évolution informatique - MET, MET 200 kV, MET LaB6 200kV, MET pour les matériaux

JEM-2100Plus

JEOL Europe2022-10-18T12:52:04+02:00
présentation du JEM-1400Flash

JEM-1400Flash – MET 120 kV

Évolution informatique - MET, MET 120 kV, MET LaB6 120kV, MET pour la cryo et la biologie, MET pour les matériaux

JEM-1400Flash – MET 120 kV

MET pour cryo et biologie

JEOL Europe2022-06-03T15:14:09+02:00
présentation du CRYOARM300-II

CRYO ARMTM 300 II

MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARMTM 300 II

JEOL Europe2022-06-03T16:15:17+02:00
présentation du CRYO ARM200

CRYO ARM 200

MET 200 kV, MET pour la cryo et la biologie

CRYO ARM 200

JEOL Europe2022-07-04T12:37:10+02:00
présentation du F2

CRYO F2 – cryo-EM

Évolution informatique - MET, MET pour la cryo et la biologie

CRYO F2 – cryo-EM

JEOL Europe2022-06-03T16:36:17+02:00
présentation du JEM-2100Plus

JEM-2100Plus Cryo

MET pour la cryo et la biologie

JEM-2100Plus Cryo

JEOL Europe2022-10-18T12:52:04+02:00
présentation du JEM-1400Flash

JEM-1400Flash – MET 120 kV

Évolution informatique - MET, MET 120 kV, MET LaB6 120kV, MET pour la cryo et la biologie, MET pour les matériaux

JEM-1400Flash – MET 120 kV

MET LaB6 200 kV

JEOL Europe2023-02-02T12:47:59+01:00
présentation du JEM-2100Plus

JEM-2100Plus

Évolution informatique - MET, MET 200 kV, MET LaB6 200kV, MET pour les matériaux

JEM-2100Plus

MET LaB6 120 kV

JEOL Europe2022-10-18T12:52:04+02:00
présentation du JEM-1400Flash

JEM-1400Flash – MET 120 kV

Évolution informatique - MET, MET 120 kV, MET LaB6 120kV, MET pour la cryo et la biologie, MET pour les matériaux

JEM-1400Flash – MET 120 kV

JEOL Europe2022-10-18T13:24:59+02:00
présentation du JEM-1400Flash amiante

JEM-1400Flash Amiante

Évolution informatique - MET, MET 120 kV, MET LaB6 120kV

JEM-1400Flash Amiante

MET FEG 200 kV

JEOL Europe2022-10-11T17:40:45+02:00
présentation du F2

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kV

Évolution informatique - MET, MET FEG 200 kV, MET pour les matériaux

F2 – MET-FEG à très haute tension – 200kV

JEOL Europe2023-02-02T12:57:17+01:00
présentation du JEM-ACE200F

JEM-ACE200F

MET FEG 200 kV

JEM-ACE200F

Logiciels

JEOL Europe2022-10-11T15:59:08+02:00
présentation des logiciels MET

Logiciels SerialEM, TomoJ, IMOD, Chimera, TEMography™, Shot Meister et JADAS

Logiciels, Microscopes Électroniques en Transmission

Logiciels SerialEM, TomoJ, IMOD, Chimera, TEMography™, Shot Meister et JADAS

Caméras

JEOL Europe2022-12-05T16:40:29+01:00
caméra SightSKY

Caméra haute sensibilité SightSKY

Caméras

Caméra haute sensibilité SightSKY

JEOL Europe2022-12-05T18:53:53+01:00
caméra JEOL Flash

Caméra JEOL Flash

Caméras, Caméras JEM-1400Flash

Caméra JEOL Flash

JEOL Europe2022-12-05T18:51:19+01:00
caméra JEOL La Sentinelle

Caméra La Sentinelle

Caméras, Caméras JEM-1400Flash

Caméra La Sentinelle

Produits IDES

JEOL Europe2022-10-11T15:31:13+02:00
présentation du modulateur de dose électronique

Modulateur de dose électronique (EDM)

Produits IDES

Modulateur de dose électronique (EDM)

JEOL Europe2022-11-02T11:52:34+01:00
IDES luminary micro

Luminary Micro : excitation laser d’échantillons

Produits IDES

Luminary Micro : excitation laser d’échantillons

JEOL Europe2022-08-19T07:45:27+02:00
présentation de Relativity

Relativity : système de sous-trame électrostatique

Produits IDES

Relativity : système de sous-trame électrostatique

JEOL Europe2022-10-11T15:32:04+02:00
présentation de Luminary

Luminary : MET ultra-rapide / dynamique

Produits IDES

Luminary : MET ultra-rapide / dynamique

Copyright 2021 JEOL | Réalisation : BSI | Données personnelles | Mentions Légales | Préférences liées aux cookies
Page load link
Gérer le consentement aux cookies
Nous utilisons des cookies pour optimiser notre site web et notre service. Nous n'utilisons aucun cookie publicitaire.
Fonctionnel Toujours activé
Le stockage ou l'accès technique est strictement nécessaire dans le but légitime de permettre l'utilisation d'un service spécifique explicitement demandé par l'abonné ou l'utilisateur, ou dans le seul but d'effectuer la transmission d'une communication sur un réseau de communications électroniques.
Préférences
Le stockage ou l’accès technique est nécessaire dans la finalité d’intérêt légitime de stocker des préférences qui ne sont pas demandées par l’abonné ou l’utilisateur.
Statistiques
Le stockage ou l'accès technique qui est utilisé exclusivement à des fins statistiques. Le stockage ou l’accès technique qui est utilisé exclusivement dans des finalités statistiques anonymes. En l’absence d’une assignation à comparaître, d’une conformité volontaire de la part de votre fournisseur d’accès à internet ou d’enregistrements supplémentaires provenant d’une tierce partie, les informations stockées ou extraites à cette seule fin ne peuvent généralement pas être utilisées pour vous identifier.
Marketing
The technical storage or access is required to create user profiles to send advertising, or to track the user on a website or across several websites for similar marketing purposes.
Gérer les options Gérer les services Gérer les fournisseurs En savoir plus sur ces finalités
Préférences
{title} {title} {title}
Aller en haut