Microscopes Électroniques à balayage

HAXIS – LIM (Low-angle Ion Milling)JEOL Europe2026-11-04T11:24:51+01:00

JSM-IT810 SIL : le MEB FEG haute résolution pour les semi-conducteursJEOL Europe2026-11-04T10:59:05+01:00

Fonction Live 3DJEOL Europe2026-07-15T15:55:14+02:00

LazEdge – système Laser intégré dans un MEBJEOL Europe2026-11-04T11:00:52+01:00

JSM-IT710HRJEOL Europe2026-04-10T16:49:49+02:00

JSM-IT810JEOL Europe2026-01-09T09:47:21+01:00

MEB de table JCM-7000bsi2026-10-20T16:18:25+02:00

DrySD™ Gather-X – détecteur EDS sans fenêtreJEOL Europe2026-11-04T11:01:18+01:00

JSM-IT210JEOL Europe2026-04-10T16:49:01+02:00

JSM-IT510
avec fonction Simple SEM™JEOL Europe2026-04-10T16:49:12+02:00

JED-2300/2300F (EDS SDD pour MEB)JEOL Europe2025-03-10T12:36:44+01:00