Présentation du microscope électronique à balayage de table JCM-7000

Le MEB de table JCM-7000 est très facile d’utilisation avec une navigation simplifiée et une analyse chimique simultanée à l’observation (unique à JEOL). Ainsi la composition chimique apparaît au même moment que vous observez votre échantillon.

Le JCM-7000 intègre trois fonctions innovantes :

  • La fonction de Zeromag (observation instantanée) pour une transition en douceur des images du microscope optique aux images du microscope électronique à balayage (MEB),
  • La fonction Live Analysis (analyse élémentaire instantanée) pour rechercher les éléments chimiques du tableau de Mendeleïev constitutifs d’une zone d’observation,
  • La fonction Live 3D (image 3D instantanée) pour afficher une image 3D reconstituée pendant l’observation par le MEB.

Comparé au microscope optique, JCM-7000 vous permet d’effectuer une analyse plus approfondie, plus rapide et plus détaillée de son échantillon et avec la possibilité d’analyser chimiquement votre échantillon. Ce MEB de table est la solution idéale pour détecter les éléments  étrangers et réaliser un contrôle qualité complet.

Avec Zeromag, le JCM-7000 permet une observation en continue de l’imagerie optique à l’imagerie par MEB. Avec Live Analysis, une analyse élémentaire (chimique) par EDS est réalisée pendant l’observation par MEB.

Comparaison avec le microscope optique

Analyse de contaminants

Facilité à détecter des corps étrangers.
Facilité à identifier la composition des éléments constituant l’échantillon analysé.
Exemple : Analyse d’un corps étranger noir collé à la surface d’un produit alimentaire.

L’observation montre une poudre noire à la surface de l’échantillon. L’image à partir du même champ de vision montre des particules avec un contraste différent indiquant des compositions différentes (les blancs indiquent les éléments lourds et plus le niveau de gris descend vers les noirs plus l’élément sera léger). L’agrandissement de la zone d’observation permet d’obtenir une analyse chimique EDS instantanée avec l’identification des éléments principaux.

Contrôle qualité

Le JCM-7000 permet une observation des structures de surface détaillées en haute résolution avec une grande profondeur de champ. L’un des avantages de la microscopie électronique sur la microscopie optique est sa très grande profondeur de champ.

Exemple : Analyse d’un corps étranger noir collé à la surface d’un produit alimentaire.

Il est difficile de voir la répartition du lubrifiant sur la surface du granule et la qualité de son adhésion. La profondeur de champ supérieure à celle du microscope optique ainsi que le contraste rendu selon la composition montrent clairement la répartition du lubrifiant à la surface du granule. L’état d’adhérence du lubrifiant peut être observé avec un grossissement plus élevé.

Infos complémentaires

Zeromag
Permet d’agrandir l’image du mode optique pour passer automatiquement à une image électronique !

Mode Low-vacuum
La visualisation est simple sans pré-traitement pour les échantillons non conducteurs tels que des échantillons biologiques, polymers, céramiques, etc.

Échantillon : sel

Live analysis
Les opérations d’observation par MEB et l’analyse EDS ne sont plus séparées. Lorsque Live Map est sélectionné, vous pouvez vérifier la répartition des éléments chimiques dans la zone observée en temps réel.

Contrôle par écran pendant l'observation avec Live Analysis

Contrôle par écran pendant l’observation avec Live Analysis

Contrôle rapide de la répartition des éléments avec Live Map

Contrôle rapide de la répartition des éléments avec Live Map

Live 3D
Le nouveau détecteur à haute sensibilité et à 4 sections par électrons rétrodiffusés permet de présenter simultanément une image MEB et une image 3D. Pour des échantillons présentant des topographies complexes, leur forme est instantanément déterminée et des informations plus détaillées peuvent également être recueillies.

Exemple de rapport

Exemple de rapport

Smile viewTM Lab : Edition de rapport
Toutes les données peuvent être gérées à partir de la fenêtre de gestion des données de SMILE VIEWTM Lab.
L’examen et la ré-analyse des données précédemment acquises et la création de rapports peuvent être facilement effectués.

Smile view lab

Neoscope. MEB de table JCM-7000

AVIS CLIENT

Au laboratoire COBRA UMR 6014 sur le site de l’INSA à Saint Etienne du Rouvray, nous utilisons le MEB EDX, JCM-7000 de chez JEOL pour l’observation de particules solides en majorité issues de synthèse. Dans le cadre des études en lien avec les problématiques industrielles, nous sommes amenés à réaliser une analyse élémentaire afin de réaliser un screening des éléments présents.

Le laboratoire COBRA à l'INSA Rouen utilise le microscope à balayage Neoscope de JEOL.

laboratoire COBRA UMR 6014, INSA Rouen

AVIS CLIENT

Les premiers retours d’expérience montrent que les utilisateurs trouvent la prise en main de la machine simple et rapide : après 15 à 30 minutes de formation par un membre de l’équipe référente, chacun est capable d’acquérir des images de bonne qualité en quasi-autonomie.
La convivialité du logiciel et ses modes semi-automatisés permettent un accès à un public large et de niveaux très divers. Cette facilité d’accès est un élément important pour nos structures qui accueillent, dans le cadre de leurs missions de formation, de nombreux stagiaires, étudiants, ingénieurs et chercheurs invités.
Au cours de cette première année d’utilisation, la seule opération de maintenance, réalisée par un membre de l’équipe référente, en suivant les conseils du constructeur, a été le changement du filament. Aucun autre problème n’a été détecté malgré un nombre conséquent d’utilisateurs différents, ce qui laisse augurer d’une bonne fiabilité.

> lire la totalité du retour d’utilisateurs

Service d’Observation de l’Institut Universitaire Européen de la Mer, IUEM Brest

AVIS CLIENT

Les premiers retours d’expérience montrent que les utilisateurs trouvent la prise en main de la machine simple et rapide : après 15 à 30 minutes de formation par un membre de l’équipe référente, chacun est capable d’acquérir des images de bonne qualité en quasi-autonomie.
La convivialité du logiciel et ses modes semi-automatisés permettent un accès à un public large et de niveaux très divers. Cette facilité d’accès est un élément important pour nos structures qui accueillent, dans le cadre de leurs missions de formation, de nombreux stagiaires, étudiants, ingénieurs et chercheurs invités.
Au cours de cette première année d’utilisation, la seule opération de maintenance, réalisée par un membre de l’équipe référente, en suivant les conseils du constructeur, a été le changement du filament. Aucun autre problème n’a été détecté malgré un nombre conséquent d’utilisateurs différents, ce qui laisse augurer d’une bonne fiabilité.

> lire la totalité du retour d’utilisateurs

Laboratoire des sciences de l’Environnement MARin (UMR6539), LEMAR Brest

CARACTERISTIQUES

de x 10 à x 100 000 (grossissement défini par 128 mm x 96 mm)
Vide poussé et vidé partiel
15 kV, 10 kV et 5 kV
Tout automatique comme les vrais MEB: chauffage, saturation et centrage XY par déflection électromagnétique du canon. Aucune molette de réglage sur le canon. C’est unique sur le marché du MEB de table
80 mm de diamètre et 50 mm de hauteur
Détecteur d’électrons secondaires ET Détecteur d’électrons rétrodiffusés, c’est unique sur le marché du MEB de table
PC tactile sous Windows 7, le GUI couvre tout écran LCD de 21 à 72 pouces et ne se limite pas à la taille d’un écran de PC portable. C’est unique sur le MEB de Table
Détecteur SDD de technologie JEOL à détection des éléments légers
Logiciel intégré dans le logiciel du MEB.
Correction automatique du probe tracking intéractive intégrée au logiciel comme sur les MEBs FEG.
Cartographie X,  Edition de rapport avec possibilité d’export Word TM Powerpoint TM…

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

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Webinaires

‌‌The primary focus of this seminar is to explain the basics of SEM and EDS and the associated benefits thereof.
‌‌Dedicated software automates detection and EDS analysis of particles, inclusions or grains and classifies this information based on shape and composition. Compatible across our SEM product line for micro to nano scale solutions.

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