JSM-IT700HR

Le nouveau microscope électronique à balayage (MEB) JSM-IT700HR est l’outil essentiel dans le fonctionnement quotidien d’un laboratoire. Grâce à ses fonctions novatrices, il simplifie considérablement l’observation et l’analyse des nanomatériaux qui sont à l’origine des avancées technologiques d’aujourd’hui.

Son nouveau canon à électrons à effet de champ permet d’atteindre une résolution spatiale de 1 nm et le plus fort courant de sonde du marché (300 nA). Le courant de sonde est réglable en continue de quelques pA à 300 nA. Les 300 nA sont atteignables grâce au brevet JEOL sans risquer d’endommager la pointe. Ce nouveau canon permet de faire des cartographies X à basse tension (< 5 kEV) très facilement (singularité JEOL). La nouvelle interface logiciel permet une gestion des différents paramètres d’une grande fluidité.
Ce microscope compact comporte également une grande chambre à échantillons avec plusieurs ports d’accessoires ainsi que l’EDS JEOL intégré.

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Zeromag et fonctions automatiques

Transition homogène de l’image optique vers l’image MEB

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Zeromag est conçu pour lier le graphique ou l’image optique* à l’image MEB
L’utilisation de la fonction Zeromag facilite la recherche par champ.

Fonction automatique

Avec ses trois fonctions automatiques (focus, astigmatisme et brillance / contraste) il est possible de générer des images à fort grandissement en quelques clics et sans aucun réglage manuel.

_{* Le système de navigation par étape (Stage Navigation Système – SNS) est nécessaire pour afficher une image optique.}

EDS intégré et Live Analysis

Intégration de l’observation et de l’analyse

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Affichage de l’analyse EDS directement sur l’écran d’observation pour une transition cohérente de l’observation à l’analyse. Le mode Live Analysis affiche en temps réel les spectres pour les rayons X caractéristiques.

SMILE VIEW^TM Lab

Création rapide et flexible de rapports

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SMILE VIEW^TM Lab est un outil de gestion de données (brevet JEOL) qui relie l’image optique, l’image MEB et les résultats d’analyse EDS. En un clic, vous pouvez facilement créer un rapport après vos mesures. Une version hors-ligne du logiciel (en option) est disponible pour libérer la mémoire du MEB et améliorer la productivité.

Affichage de la profondeur du signal

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JEOL a intégré une nouvelle fonction pour afficher la profondeur du signal. L’observation de la profondeur d’analyse sur l’échantillon permet de comprendre les résultats élémentaires générés.

Alignement automatique du faisceau (ABA)

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Cette fonction ajuste automatiquement l’axe optique du faisceau d’électrons.

Observation et analyse de larges zones avec la fonction de montage

Résultat du montage : 6×6 (à gauche : image électronique rétrodiffusée, à droite : cartographie des éléments Cu).
Échantillon : Découpe transversale d’une vis en laiton (réalisé par IB-19530CP après polissage mécanique). Tension d’accélération : 20 kV, mode Low vacuum (20 Pa), zone d’image : 6,4 mm x 4,8 mm.
Le montage permet de connecter toutes les images dans une grande zone en une seule image haute définition. Cette fonction est très utile pour acquérir des informations détaillées sur une grande surface.

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.