L’ionisation de champ, également connue sous le nom de Field Ionization (FI) en anglais, est une technique d’ionisation douce utilisée pour l’analyse de composés thermiquement instables, réfractaires et à haut poids moléculaire. Dans cette technique, un potentiel de 8 à 10 kV est appliqué sur un émetteur, ce qui provoque l’ionisation des composés sortant de la colonne.
La Field Ionization correspond donc au processus où les molécules vaporisées sont ionisées au moment où elles s’approchent de l’émetteur. Lorsque l’échantillon est directement appliqué sur l’émetteur, on parle de Field Desorption (FD). Cette technique d’ionisation est idéale pour les composés thermiquement labiles et les échantillons solubles dans des solvants apolaires. Elle permet également d’analyser des échantillons de poudre dispersée dans des solvants ainsi que des composés à haut poids moléculaire tels que les polymères.

L’énergie d’ionisation de la Field Ionization est inférieure ou égale à 1 eV, ce qui signifie que l’énergie interne des ions moléculaires ionisés est considérablement plus basse que celle obtenue par les techniques d’ionisation par impact électronique (EI) ou ionisation chimique (CI). Cette caractéristique permet de réduire voire d’éviter la fragmentation des composés d’intérêt.

La Field Ionization ne nécessite pas l’utilisation de gaz réactants et convient particulièrement bien aux méthodes de chromatographie en phase gazeuse couplées à la spectrométrie de masse (GC-MS) pour la détermination de l’ion moléculaire.

Il est possible de combiner l’ionisation FI/FD avec l’ionisation par impact électronique (EI) grâce à une source d’ionisation combinée EI/FI/FD développée par JEOL. Cette source permet d’obtenir à la fois le spectre de fragmentation de l’échantillon ainsi que les ions moléculaires, sans nécessiter l’utilisation de gaz réactants, de coupure du vide ou de remplacement de sources d’ionisation.

La source d’ionisation par Field Ionization est compatible avec nos spectromètres de masse à temps de vol tels que le JMS-T2000GC.*

Schémas de la source d'ionisation FI/FD
EI FI FD

Schéma EI/FI/FD

résultats EI FI