Présentation

Le JEM-1400Flash Amiante est un microscope électronique en transmission compact pour l’analyse de l’amiante à hautes performances et très simple d’utilisation.

Son image combine la haute résolution et un excellent contraste en un seul et même mode. Le JEM-1400FLASH est un appareil polyvalent permettant à la fois de faire de la cryo-microscopie, de la tomographie, de l’analyse chimique, etc. Cet appareil est l’équipement de référence pour les sciences du vivant, les polymères, les matériaux et l’analyse d’amiante.

Pour cette nouvelle génération de MET 120kV, JEOL a porté une attention toute particulière à la facilité et au confort d’utilisation en optimisant aussi bien la partie matériel que la partie logiciel :

  • La nouvelle caméra sCMOS développée par JEOL : Matataki Flash allie très grande vitesse de lecture (30 images par secondes en pleine résolution) et grande sensibilité. Elle vous permettra de faire des acquisitions d’images TEM extrêmement facilement et rapidement.
  • La nouvelle fonction logiciel « Limitless Panorama (LLP) » inclue avec le 1400FLASH vous donnera la possibilité de réaliser automatiquement des images puis de les ajuster ensemble. Ce système gère le déplacement du goniomètre et permet donc de faire des images panorama sur de très grandes zones (toute la grille) avec une très grande résolution. Combiné à la caméra Matataki Flash, Limitless Panorama réalisera des images sans limitation de champs ni de nombre de pixels. Face à l’ampleur des donnés, un système d’affichage intelligent permet de ne pas saturer le PC.
  • Grâce à « Picture Overlay », la microscopie corrélative n’aura jamais été aussi aisée. Picture Overlay permet de superposer en temps réel sur l’image TEM une image d’optique ou de fluorescence.
  • L’ergonomie du microscope a été améliorée : l’espace pour les jambes a été adapté, les pupitres de commandes ont été simplifiés et sont personnalisables et l’interface graphique a été revue.Le JEM-1400Flash intègre également en option un module à balayage numérique STEM.
    Ce dernier permettra d’obtenir des images HAADF et champ clair qui apporteront une information supplémentaire tant en tomographique qu’en observation classique. Le couplage avec l’EDS JEOL fournira une cartographie chimique des éléments constituant l’échantillon.

Options

CARACTÉRISTIQUES

Image en réseau : 0,20 nm
Image point par point : 0,38 nm

de 40 à 120 kV
Pas variables : tous les 33 V

Mode Mag : x200 - 1,200,000
Mode Low Mag : x50 - 1,000
Mode SA Mag : x2,500 - 300,000

SA DIFF : 150 - 3,500 mm
HD DIFF : 4 - 80 m

3 étages (double)

motorisée

jusqu'à 4

Direction X, Y : ± 1 mm
Direction Z : ± 0,5 mm

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Télécharger les notes d'application

‌‌Presented here are analysis results of Amosite, Crocidolite, Chrysotile, Anthophyllite and Tremolite/Actinolite. Those asbestos were analyzed by morphological observation of TEM images, electron diffraction and elemental analysis using EDS. Since various asbestos are enabled to be identified through differences in their fibrous shapes, electron diffraction patterns and constituent elements, TEM can distinguish asbestos only from one fiber.

GALERIE

Webinaire

‌‌Learn about the JEOL JEM-1400Flash - Widely accepted for its ease of use and high resolution imaging and analysis.