Microscope électronique à balayage de table JCM-7000Plus NeoScope™
Observer maintenant, agir ensuite : le JCM-7000Plus monte à 20 kV, atteint 6 nm de résolution et conserve l’analyse chimique en direct, propre à JEOL.
Les MEB de table se sont imposés dans l’électronique, l’automobile, la métallurgie, la chimie, la pharmacie, l’agroalimentaire, l’enseignement et la recherche. Le JCM-7000Plus, nouvelle génération du NeoScope™, répond à la demande d’analyses plus rapides, plus fiables et plus automatisées. Il réunit :
- Zeromag : passage fluide de l’image optique à l’image MEB ;
- Live Analysis et Live Map : identification des éléments et cartographie pendant l’observation ;
- Live 3D : image 3D reconstituée en temps réel ;
- Live Particle (nouveau, en standard) : comptage et mesure automatiques des particules ;
- Neo Action (option) : acquisitions, analyses et rapports enchaînés automatiquement.
Placé à côté d’un microscope optique, le JCM-7000Plus apporte la profondeur de champ, le fort grossissement et la composition chimique : l’outil idéal pour identifier des corps étrangers et mener un contrôle qualité complet.
(durée vidéo : 1 min. 01 s.)
Ce qui change avec le JCM-7000Plus
| 20 kV de tension d’accélération
Quatre tensions (5, 10, 15 et 20 kV) pour s’adapter à une plus grande variété d’échantillons et observer à plus fort grossissement. |
Résolution améliorée en SEI et BEI
6 nm en électrons secondaires et 8 nm en électrons rétrodiffusés (20 kV, WD 12 mm, haut vide). |
| Meilleur contraste en BEI
Contraste de composition plus marqué : phases et inclusions se distinguent plus nettement, ce qui facilite le choix des zones à analyser en EDS. |
Profondeur du signal maîtrisée
De l’extrême surface à 5 kV aux structures sous-jacentes à 20 kV : vous choisissez la profondeur d’information. À 20 kV, un porte-échantillon STEM simplifié permet même l’observation en transmission. |
| Filament : maintenance simplifiée
Filament tungstène à Wehnelt intégré, remplacé comme une ampoule, sans nettoyage ni alignement. |
EDS plus performant
Meilleure excitation des raies K des métaux de transition à 20 kV, moins d’erreurs d’identification en haut vide. |
| Live Particle en standard
Comptage, distribution granulométrique et taille moyenne des particules en temps réel, sans logiciel supplémentaire. |
Neo Action (option)
Acquisition en continu : flux d’observation et d’analyse automatisés, montage d’images, rapport généré automatiquement et recettes de mesure réutilisables. |
Particules d’oxyde de zinc observées à 20 kV
Haut vide et 20 kV : précision en imagerie comme en analyse
En haut vide, la diffusion des électrons est minimale : les microstructures restent nettes à fort grossissement et l’analyse EDS gagne en fiabilité. Combiné aux 20 kV et au réglage automatique de l’image amélioré, ce mode permet d’atteindre 6 nm de résolution sur un MEB de table.
JCM-7000plus-nanofibres-chitine
Analyse EDS d’un matériau contenant de l’amiante
Les fonctions Live : comprendre pendant que vous observez
Live Analysis
JEOL conçoit en interne microscope et détecteur EDS. Le spectre X de la zone observée et les éléments identifiés automatiquement s’affichent en temps réel sur l’écran d’observation : vous décidez sans interrompre votre travail.
Échantillon : alliage
Live Map
La répartition des éléments dans le champ s’affiche pendant l’observation, pour repérer plus vite les variations de composition.
Échantillon : coupe de composant électronique
Live 3D
Le détecteur d’électrons rétrodiffusés segmenté affiche simultanément l’image MEB et une reconstruction 3D : la topographie des surfaces complexes se lit instantanément.
Échantillon : faciès de rupture métallique
Live Particle
NOUVEAU
Échantillon : particules d’oxyde de silicium
Les particules sont détectées sur l’image MEB : comptage, distribution granulométrique, taille moyenne et dispersion s’obtiennent en temps réel. Fourni en standard.
Neo Action : l’acquisition en continu (option)
Neo Action exécute des flux d’observation et d’analyse prédéfinis comme le ferait un opérateur : changement de tension ou de signal, réglage automatique de l’image, déplacement d’une position à l’autre, acquisition EDS. Les tâches de routine tournent sans surveillance, jusqu’au rapport final.
Montage et analyse multi-champs
(durée vidéo : O min. 23 s.)
CARACTÉRISTIQUES
AVIS CLIENT
Au laboratoire du Département matériaux & procédés de la Direction technique de Safran Transmission Systems de Colombes, en MEB JCM-7000 et sa sonde EDX de chez JEOL sont utilisés pour réaliser des analyses fractographiques d’éprouvettes matériaux ainsi que des analyses élémentaires.
Le MEB permet d’étudier les modes d’endommagement et la sonde EDX d’identifier la nature chimique des matériaux présents. Ce microscope est utilisé dans les phases R&T, développement, production et après-vente.
Télécharger la note d’application
AVIS CLIENT
Au laboratoire COBRA UMR 6014 sur le site de l’INSA à Saint Etienne du Rouvray, nous utilisons le MEB EDX, JCM-7000 de chez JEOL pour l’observation de particules solides en majorité issues de synthèse. Dans le cadre des études en lien avec les problématiques industrielles, nous sommes amenés à réaliser une analyse élémentaire afin de réaliser un screening des éléments présents.
Webinaires
| The primary focus of this seminar is to explain the basics of SEM and EDS and the associated benefits thereof. |
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| Dedicated software automates detection and EDS analysis of particles, inclusions or grains and classifies this information based on shape and composition. Compatible across our SEM product line for micro to nano scale solutions. |
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AVIS CLIENT
Les premiers retours d’expérience montrent que les utilisateurs trouvent la prise en main de la machine simple et rapide : après 15 à 30 minutes de formation par un membre de l’équipe référente, chacun est capable d’acquérir des images de bonne qualité en quasi-autonomie.
La convivialité du logiciel et ses modes semi-automatisés permettent un accès à un public large et de niveaux très divers. Cette facilité d’accès est un élément important pour nos structures qui accueillent, dans le cadre de leurs missions de formation, de nombreux stagiaires, étudiants, ingénieurs et chercheurs invités.
Au cours de cette première année d’utilisation, la seule opération de maintenance, réalisée par un membre de l’équipe référente, en suivant les conseils du constructeur, a été le changement du filament. Aucun autre problème n’a été détecté malgré un nombre conséquent d’utilisateurs différents, ce qui laisse augurer d’une bonne fiabilité.
AVIS CLIENT
Les premiers retours d’expérience montrent que les utilisateurs trouvent la prise en main de la machine simple et rapide : après 15 à 30 minutes de formation par un membre de l’équipe référente, chacun est capable d’acquérir des images de bonne qualité en quasi-autonomie.
La convivialité du logiciel et ses modes semi-automatisés permettent un accès à un public large et de niveaux très divers. Cette facilité d’accès est un élément important pour nos structures qui accueillent, dans le cadre de leurs missions de formation, de nombreux stagiaires, étudiants, ingénieurs et chercheurs invités.
Au cours de cette première année d’utilisation, la seule opération de maintenance, réalisée par un membre de l’équipe référente, en suivant les conseils du constructeur, a été le changement du filament. Aucun autre problème n’a été détecté malgré un nombre conséquent d’utilisateurs différents, ce qui laisse augurer d’une bonne fiabilité.
GALERIE
cloporte, agrandissement x30
Araignée, agrandissement x55
engrenage de montre, agrandissement x45
Coquille d’escargot, agrandissement x35
Circuit imprimé, agrandissement x75
Pièce de monnaie avec feuille de chêne
Disques de diamant, agrandissement x550
Fibres de cuivre, agrandissement x110
Feuille de trèfle, agrandissement x250
Pièce de monnaie avec la porte de Brandebourg
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