Images MET en haute résolution : Si3N4

Grâce aux 19 millions de pixels du capteur CMOS, il est possible de zoomer numériquement dans l’image tant en gardant une très bonne résolution, même à l’échelle des réseaux.

Images MET en haute résolution et cliché de diffraction électronique sur Al72Fe24Ni4 quasi-cristal dodécagonal

Le zoom numérique permet l’observation d’arrangements atomiques présentant une quasi-périodicité, tels que ceux caractéristiques des quasi-cristaux.
De plus, une plage dynamique élevée produit un excellent contraste du motif de diffraction électronique, du spot direct de haute intensité aux spots de plus faible intensité.

échantillon Pr. Emeritus Kenji Hiraga, Tohoku University. Dr. Kunio Yubuta, Kyushu University

Images MET de silicium polycristallin

Des structures fines, telles que les macles du silicium polycristallin, peuvent être observé avec un haut contraste.

image de silicium polycristallin avec le MET JEM-2100Plus

Images MET de résine polyéthylène et polypropylène

Le zoom numérique permet une observation claire des structures lamellaires.

méthode de préparation de l'échantillon : microtome

Image MET d’une feuille de carotte

Les structures membranaires des chloroplastes et des mitochondries peuvent être identifiées; en outre, les structures membranaires fines sont observables en détail.

méthode de préparation de l'échantillon : microtome

Image MET de la bicouche phospholipidique (liposome)

Les membranes bicouches lipidiques du liposome peuvent être clairement distinguées.

méthode de préparation de l'échantillon : ice embedding

Logiciel de contrôle « SightX »

logiciel de contrôle de la caméra SightSKY

caméra SightSKY JEOL

CARACTÉRISTIQUES

à haute sensibilité et faible bruit pour une imagerie de qualité permettant de visualiser les détails fins et ce même dans des conditions de faible dose.

58 fps permettent des acquisitions de séries d’images avec moins d’artefacts lors de l’observation dynamique.