Microscopes électroniques à balayage

Microscopes électroniques à balayageJEOL Europe2026-07-15T15:54:17+02:00

MEB multifonctions

bsi2026-09-21T12:07:30+02:00

MEB de table JCM-7000

MEB grande chambre multifonctions

MEB de table JCM-7000

JEOL Europe2026-04-10T16:49:01+02:00

JSM-IT210

MEB grande chambre multifonctions

JSM-IT210

JEOL Europe2026-04-10T16:49:12+02:00

JSM-IT510 avec fonction Simple SEM™

MEB grande chambre multifonctions

JSM-IT510 avec fonction Simple SEM™

MEB à effet de champ

JEOL Europe2026-10-09T12:02:21+02:00

JSM-IT810 SIL : le MEB FEG haute résolution pour les semi-conducteurs

MEB à effet de champ

JSM-IT810 SIL : le MEB FEG haute résolution pour les semi-conducteurs

JEOL Europe2026-04-10T16:49:49+02:00

JSM-IT710HR

MEB à effet de champ

JSM-IT710HR

JEOL Europe2026-01-09T09:47:21+01:00

JSM-IT810

MEB à effet de champ

JSM-IT810

Système laser intégré dans un MEB

JEOL Europe2026-10-09T11:59:43+02:00

LazEdge – système Laser intégré dans un MEB

Système Laser intégré dans un MEB

LazEdge – système Laser intégré dans un MEB

Détecteur EDS

JEOL Europe2026-04-10T17:03:11+02:00

DrySD™ Gather-X – détecteur EDS sans fenêtre

Détecteur EDS

DrySD™ Gather-X – détecteur EDS sans fenêtre

JEOL Europe2026-04-10T16:39:44+02:00

SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)

SXES

SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)

JEOL Europe2026-07-15T15:55:14+02:00

Fonction Live 3D

live 3D, Microscopes Électroniques à balayage

Fonction Live 3D