Focused ion-beam milling [FIB]
Le FIB est à l’origine une technique de préparation d'échantillons TEM permettant de couper et préparer un échantillon par faisceau d’ions gallium (Ga).
Filtre de Wien
Utilise des champs magnétiques et électriques perpendiculaires l'un à l'autre pour obtenir une dispersion énergétique.
Détecteur EDS sans fenêtre
Détecteur EDS qui n'utilise pas de fenêtre de protection devant le détecteur permettant d’éviter l’absorption de rayons X par le matériau de la fenêtre.
Diffraction d’électrons rétrodiffusés [EBSD]
Technique cristallographique microstructurale permettant de mesurer l'orientation cristallographique de nombreux matériaux.
Microscopie électronique en transmission filtrée en énergie [EFTEM]
Méthode pour former une image MET en sélectionnant uniquement les électrons ayant une énergie spécifique parmi ceux transmis à travers l’échantillon.
Aray tomography
Méthode utilisant des images d'électrons rétrodiffusés pour reconstruire en trois dimensions la structure interne d'un spécimen biologique.
Sous focalisé
L'excitation de l'objectif du MET est légèrement réduite par rapport à celle au focus (focalisation sur un échantillon).
Aqua cover
Méthode pour observer des échantillons très humides à l'aide d'un microscope électronique à balayage (MEB).
