Le 21 septembre 2021, dans le Centre européen d’applications de JEOL à Croissy-sur-Seine, lors du workshop co-organisé avec Digital Surf et HORIBA, JEOL a présenté la technique SXES.

Le workshop :

De nos jours, la combinaison de la microscopie optique avec la microscopie électronique et la spectroscopie moléculaire est devenue incontournable dans les sciences des matériaux (semi-conducteurs, matériaux 2D, corrosion) et les sciences de la terre (geologie, mineralogie, environnement). Elle garantit une compréhension complète des échantillons et de leurs interactions dynamiques avec leur environnement à différentes échelles.

Présentation de la technique SXES par JEOL :

Le détecteur SXES (pour Soft X-Ray Emission Spectrometer) est un spectromètre ultra-haute résolution à la conception innovante combinant réseau de diffraction et caméra CCD à rayon X ultra-sensible. Plusieurs éléments peuvent être analysés simultanément et le détecteur SXES à une résolution en énergie de 0,3 eV surpassant la résolution d’un spectromètre WDS.

> en savoir plus sur l’équipement SXES

Présentation du LabRAM Soleil et du F-CLUE par HORIBA

Cathodoluminescence et microscopie Raman / PL sont des techniques clés pour analyser les composants des piles à combustible, des batteries lithium-ion, des cellules solaires, ou encore des semi-conducteurs. HORIBA a présenté une approche innovante pour faciliter l’analyse corrélative de ces techniques.

Présentation de Mountains v9 par Digital Surf

Microscopie Électronique, Profilométrie des surfaces, Scanning Probe Microscopie, Spectroscopie… Mountains® est incontournable pour imager, analyser et fédérer toutes ces données de natures différentes.