Bienvenue sur JEOL (EUROPE) SAS
JEOL est le leader mondial dans les domaines de la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET), la préparation d’échantillons, la spectrométrie de masse, la spectrométrie RMN…
Nous fournissons des solutions spécifiques et adaptées aux attentes de nos clients, depuis les analyses de routine jusqu’aux appareils de pointe dans tous les domaines scientifiques, des nanotechnologies à la biologie.
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ACTUALITÉS
JEM-120i à Croissy-sur-Seine
Notre centre de démo devient centre de formation pour nos collègues européens du service technique qui se familiarisent avec le JEM-120i.
Journée Workshop 3D – Bio
Présentation des derniers développements, innovations et applications de nos utilisateurs dans les domaines de l’imagerie 3D et 2D des échantillons biologiques.
Journée EPMA Analyse et microsonde de Castaing
Inscrivez-vous à la journée du 20 mai 2025 pour découvrir les derniers développements, innovations et applications de nos utilisateurs dans les domaines des microsondes de Castaing et de l ’analyse avec les systèmes SXES et Gather-X.
L’IRB, centre RMN renforcé grâce au partenariat avec JEOL et SCAN
JEOL EUROPE SAS et son représentant régional SCAN Ltd ont signé le 7 février dernier un accord de partenariat avec l'Institut Ruđer Bošković (IRB) afin de renforcer ses capacités de recherche en spectroscopie par résonance magnétique nucléaire (RMN).
LE MOT DU MOIS
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Fibre de coton
La fibre de coton est l'une des fibres naturelles la plus connue et la plus couramment utilisée comme fibre textile. Le coton est obtenu à partir des poils de graines du cotonnier (Gossypium hirsutum L.). Au microscope électronique à balayage, les fibres...
APPLICATIONS
Synchrony : Dose Painting
Le Dose Painting crée des motifs d’exposition précis en synchronisant un blanker électrostatique avec le scan en mode STEM.
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EBSD applications with JSM-IT810
A method to measure the local orientations of a crystalline specimen from an electron backscatter diffraction pattern (EBSD or EBSP)…
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Free article published in ECS - The Electrochemical Society - "In-Situ Charging-Discharging #SEM Observation and Li Analysis for Si Anode in All Solid-State #Battery By Using SEM-EDS-SXES Method" 🔋 Read the full article here! 👉 lnkd.in/eHQnfNZB #JEOL #solidstatebattery #EDS #SXES
— JEOL EUROPE (@jeoleurope.bsky.social) 27 février 2025 à 13:10
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| L’association Cercle des microscopistes JEOL promeut les échanges techniques et scientifiques entre les utilisateurs de microscopes électroniques JEOL. Elle organise les journées CMJ pendant lesquelles sont exposées les dernières avancées techniques et de multiples applications en matière de microscopie électronique. > voir les événements CMJ  |
