Ce nouveau modèle a été développé pour offrir de nouvelles possibilités au monde de la recherche en proposant le microscope le plus performant dans les domaines de la ultra haute résolution et de l’analyse dans une large gamme de hautes tensions.

De nombreuses améliorations/développements ont été intégrés dans ce microscope, parmi lesquels :

Le nouveau design de la FHP2 lui permet d’optimiser les conditions d’analyse en ultra haute résolution :

• Son nouveau design à permis d’améliorer les l’angle solide et le take-off angle du double détecteur EDS de grande taille.
• L’analyse EDS peut être effectuée en mode ultra haute résolution.
• Le nouveau design de la FHP2 a permis de réduire les aberrations chromatiques et sphérique, donnant ainsi accès à une bien meilleure résolution spatiale et analyse EDS sur une large gamme de hautes tensions.

La WGP, est une pièce polaire à large gap créée pour les expérimentations analytiques.
Grace à ce large gap, il est possible :

• de placer les détecteurs EDS SDD au plus proche de l’échantillon pour améliorer l’angle solide et ainsi d’avoir accès à des analyses EDS ultra-sensibles.
• d’insérer des porte-objets spéciaux plus épais dans l’entrefer de la pièce polaire, donnant accès à un plus grand nombre d’analyse in-situ possibles.

Le « GRAND ARM2 » est équipé de correcteurs développés par JEOL
Le logiciel de contrôle des correcteurs JEOL COSMO, rend beaucoup plus facile et rapide l’utilisation/alignement de ces derniers. En effet, l’alignement du correcteur ne nécessite plus que l’acquisition de deux ronchigrammes sur une partie amorphe de l’échantillon pour mesuré et corriger les aberrations. Ainsi il est possible de corriger rapidement et sans échantillon spécifique les aberrations.

Le « GRAND ARM2 » est équipé en standard d’un CFEG pour obtenir les meilleures performances.
Le Cold FEG est une source à faible dispersion énergétique permettant de combiner une faible taille de sonde à une brillance très importante. Cette triple capacité est l’unique moyen de pouvoir acquérir simultanément une analyse élémentaire X, EELS associés à une échelle atomique en un temps record sur quatre types de détecteurs (EDS, EELS, HAADF, BEI).

Le nouveau canon Cold FEG est équipé d’une plus petite pompe SIP avec un volume d’évacuation plus grand que son prédécesseur. Cette nouvelle pompe améliore le degré de vide au niveau de la pointe Cold FEG, et améliore aussi la stabilité des courants d’émission et de sonde. La miniaturisation de cette pompe permet aussi d’alléger la masse totale de 100kg. Cette réduction de masse participe à la résistance aux vibrations du microscope.

Le « GRAND ARM2 » se pare d’une enceinte de protection pour limiter les perturbations environnementales telles que les changements de températures dans la pièce, les variations de débit d’air, le bruit acoustique…

« OBF STEM » (Optimum Bright Field STEM) est un nouvelle technique d’imagerie où les images brutes acquises par un détecteur STEM segmenté sont utilisées comme source pour une reconstruction d’image de phase. L’utilisation de filtres Fourier dédiés permet de maximiser le rapport signal sur bruit sur l’image reconstruite.
Cette méthode prometteuse permet d’obtenir un contraste plus élevé pour les éléments lourds et légers, et ce même dans des conditions de dose d’électrons extrêmement faibles (low dose). Les matériaux sensibles au faisceau qui sont difficiles à observer avec les méthodes standard ADF et ABF STEM peuvent être facilement analysés avec l’OBF STEM.

K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)

Les matériaux sensibles au faisceau, tels que les Metal Organic Frameworks (MOF) et les zéolithes, nécessitent une dose d’électrons réduite (généralement, un courant de sonde < 1,0 pA) pour maintenir des contrastes atomiques clairs lors de l’étude d’éléments légers.
L’OBF STEM présente l’avantage de pouvoir acquérir une image STEM low dose en gardant une résolution atomique. L’image OBF STEM de MOF MIL-101 (à gauche) et MFI Zeolite (à droite) peut être acquise en une seule trame.

En plus d’être très efficace en termes de dose, la méthode OBF STEM est également avantageuse pour l’imagerie par éléments légers. Il est possible de réduire la tension d’accélération du MET tout en conservant un contraste et une résolution élevés lors de l’étude d’éléments légers.

La résolution pour les éléments légers devient bien meilleure avec des tension d’accélération plus grandes.
Chaque colonne atomique est maintenant clairement séparée avec une résolution sub-angström à l’intérieur de structures complexes ou le long d’axes cristallographiques d’indice plus élevé.
La qualité de l’OBF STEM est excellente dans des conditions de faible dose et encore meilleure dans les conditions de sonde standard avec microscope électronique corrigé Cs.

e-ABF (enhanced ABF) n’est pas disponible avec la configuration d’un SAAF Quad.

Dans une expérience en temps réel, l’imagerie OBF live est fondamentale pour les matériaux sensibles au faisceau. Elle va vous permettre de suivre en live l’évolution de votre échantillon. L’affichage se fait en parallèle de l’image STEM conventionnelles et est intégrée dans l’interface de contrôle du MET.

Le correcteur ASCOR incorporé dans le NEOARM peut supprimer l’astigmatisme six-fold qui limite la résolution après la correction de l’aberration sphérique.
La combinaison de l’ASCOR et du Cold FEG minimise l’aberration chromatique et repousse la limite de diffraction, ce qui permet d’améliorer la résolution.

Images ADF-STEM avec leurs modèles FFT et les images Ronchigram associés (images acquises avec pièce polaire UHR).

JEOL COSMO adopte un nouvel algorithme de correction des aberrations (SRAM : Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix). COSMO ne nécessite aucun échantillon spécial pour la correction des aberrations, ce qui simplifie grandement le processus d’alignement. De plus, ce système intègre un alignement automatique du correcteur permettant un accès plus rapide au microscope. Ces caractéristiques permettent une imagerie en résolution atomique plus facile d’accès et bien plus rapide.

Le détecteur ABF a été développé pour imager en haute résolution les éléments légers. Sa dernière évolution appelée e-ABF (enhanced ABF) équipe les microscopes NEOARM et améliore encore plus le rendu du contraste des éléments légers en haute résolution.

Le détecteur STEM Perfect Sight, intégré au NEOARM, est fabriqué à partir de scintillateurs hybrides. Ce détecteur permet l’acquisition d’images STEM quantitatives et très contrastées, quel que soit le réglage de la tension d’accélération, i.e pour de faibles valeurs de tension d’accélération et jusqu’à 300 kV.

OBF STEM (Optimum Bright Field STEM) est une nouvelle méthode d’imagerie STEM où les images brutes acquises par un détecteur STEM segmenté sont utilisées comme source pour la reconstruction d’une image de phase, avec des filtres de Fourier dédiés pour maximiser le rapport signal/bruit de l’image récupérée.
Cette méthode prometteuse permet d’obtenir un contraste plus élevé pour les éléments lourds et légers, même dans des conditions où la dose d’électrons est extrêmement faible. Les matériaux sensibles aux faisceaux, difficiles à observer avec les méthodes STEM ADF et ABF classiques, peuvent être facilement analysés avec un contraste plus élevé et ce dans une large gamme de grandissements.

_{Référence : K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)}

Les matériaux sensibles au faisceau, tels que les structures métallo-organiques (MOF) et les zéolithes, nécessitent une dose d’électrons réduite (typiquement, un courant de sonde < 1,0 pA) tout en maintenant des contrastes atomiques clairs pour imager la structure des éléments légers.
La technique OBF STEM est parfaite pour l’analyse de ce type de matériaux car il est possible de travailler en mode « Low Dose » tout en conservant la résolution atomique.

Les deux images OBF STEM suivantes provenant d’échantillons MOF MIL-101et MFI Zéolite sont acquises en une seule trame et en conditions Low Dose.

En plus d’être très efficace en termes de dose, l’OBF STEM est également avantageuse pour l’imagerie des éléments légers.
Même avec une tension d’accélération plus faible, il est possible d’obtenir un contraste et une résolution spatiale plus élevés pour les éléments légers.

La résolution pour les éléments légers s’améliore considérablement avec une tension d’accélération plus élevée.

La qualité de l’OBF STEM est excellente dans des conditions de faible dose.

Observation en direct d’images OBF-STEM avec JEM-ARM200F

• Voici un article de ‘Semiconductor  science and technolgy (31 2016)’ sur la quantification à l’échelle sub-nanomètrique du contraste HAADF, et de son intérêt pour contrôler la composition des couches ultra-fines. : “ Sub-nanometrically resolved chemical mappings of quantum-cascade laser active regions ” par : Konstantinos Pantzas, Grégoire Beaudoin, Gilles Patriarche, Ludovic Largeau, Olivia Mauguin, Giulia Pegolotti, Angela Vasanelli, Ariane Calvar, Maria Amanti, Carlo Sirtori and Isabelle Sagnes.
• Xavier sauvage du GPM de Rouen nous livre un très bel article dont le but est de clarifier le rôle exact de l’étain dans les cinétiques d’oxydation de CuSn, avec une attention particulière portée à la nucléation et à la croissance des nano-particules SnO₂, précipitant dans la matrice de cuivre (cfc). Dubey et  al. ont mis a profit différentes techniques S/TEM (HRTEM, EFTEM, HR-STEM, STEM HAADF) sur un JEOL ARM200F corrigé sonde pour l’analyse des particules SnO₂.Cette étude permet de mieux comprendre les différents mécanismes présents lors de l’oxydation de CuSn. Vous y trouverez également de très bels images HAADF
• “ Atomic-scale characterization of the nucleation and growth of SnO₂ particles in oxidized CuSn alloys ”. M. Dubey, X. Sauvage, F. Cuvilly, S. Jouen, B. Hannoyer, Scripta Materialia 2012.
• Les nouveaux alliages plus légers et plus résistants sont des enjeux majeurs de l’aéronautique. Williams Lefebvre (GPM) nous livre une très belle étude sur les alliages Mg-Nd un concurrent sérieux des alliages base aluminium. De remarquables photos HAADF Ultra haute résolution (ARM-200F) nous montre la précipitation des chapelets d’atomes de Nd dans leur matrice de Magnésium.
  APPLIED PHYSICS LETTERS 100, 141906 (2012) W. Lefebvre, V. Kopp, and C. Pareige
  ‘Nano-precipitates made of atomic pillars revealed by single atom detection in a Mg-Nd alloy’

• Double filtre de Wien avec le système « Spot-IN et Spot-Out »

Le 1^er filtre de Wien et la lentille électrostatique produisent une focalisation avec une dispersion d’énergie de 12,3 µm/eV au niveau du plan de fente. A ce plan, le faisceau d’électrons est monochromaté en insérant la fente, celle-ci dispose de plusieurs largeurs allant de quelques microns à mins d’un microns. Le 2^ème filtre de Wien annule la dispersion d’énergie et produit une focalisation achromatique et stigmatique au niveau du plan de sortie, ce qui entraîne une sonde ronde sur le plan de l’échantillon. Ainsi, comme le faisceau ponctuel de la source Schottky redevient un spot en sortie du monochromateur, nous avons nommé ce système monochromateur « Spot-IN et Spot-OUT système ».

• Position du monochromateur

De par son placement entre la source schottky et l’accélérateur, le monochromateur est utilisable rapidement après un changement de haute tension
Mukai M, et al.: (2014) , Ultramicroscopy 140: 37–43.

• Résolution énergétique
  Avec plusieurs largeurs de fentes à 60 kV et 200 Kv (0,002 s et 0,1 s d’acquisition avec des acquisitions multiples (0.25 µm slit)Spectre Zero-loss (ΔE: 14meV @30kV, 2ms)
  

Le tableau montre la résolution en énergie avec des fentes de différentes largeurs à 60 kV et 200 kV. Des spectres zero-loss ont été obtenus avec des temps d’acquisition de 0,002 s. et 0,1 s. Les résolutions énergétiques ultimes de 24 meV pour 60 kV et 30 meV pour 200 kV ont été acquise avec une acquisition de 0,002 s avec la fente de 0,1 m. Les résolutions en énergie avec des acquisitions de 0,1s et 0,002s ne montrent qu’une légère diminution de la résolution en énergie, ce qui montre que les stabilités électrique et mécanique du monochromateur sont bonnes.

La figure affiche un profil d’intensité du spectre zero-loss obtenu avec une acquisition de 0,002 s à 30 kV, montrant la résolution en énergie de 14 meV.

• Résolution spatiale

Images brutes HAADF-STEM de Silicium [110] et de leurs transformées de Fourier avec différentes résolutions énergétiques à 200 kV et 60 kV. Bien qu’une perte de courant soit inévitable de par l’usage de la fente, cette comparaison démontre que la résolution en STEM n’est pas affectée par le monochromateur. Les deux FFT avec des fentes de 4 µm et 0,25 µm ont montré des résolutions isotropes. Le monochromateur à double filtre de Wien permet l’obtention d’une sonde électronique monochromatique ronde avec une résolution atomique à n’importe quelle résolution énergétique grâce au système « Spot-IN et Spot-OUT ».

• Application : phonon de hBN
  Spectre vibratoire du phonon optique du BN hexagonal ΔE : 20 meV à 30 kV

Carte low-loss EELS d’un nitrure de bore hexagonal (h-BN) avec une sonde monochromatique utilisant une fente de 0,1 µm. Taille de la sonde = 1 nm, courant de la sonde = 10 pA, temps d’acquisition pour chaque pixel = 0,3 seconde. (a) Image STEM ADF de la zone de cartographiée. (b) Spectre low-loss extrait du bord de l’échantillon indiqué par le carré jaune encadré sur la figure (a). Ce spectre, mesuré avec ΔE = 22 meV, montrait un pic correspondant à un phonon optique à 170 meV. (c) Carte EELS à l’énergie des phonons. L’intensité des phonons a été délocalisée dans la zone de vide > 100 nm au-delà du bord de l’échantillon en raison de la délocalisation de la diffusion inélastique des électrons.

• Application :  Résonance plasmonique de surface
  Gold nano-rod, ΔE: 30meV @60kV

Résultats de la cartographie EELS pour obtenir la résonance plasmonique de surface à l’aide d’un nano-tige en or, enregistré à 60 kV avec une dispersion d’énergie de 30 meV. Le courant de sonde est de 75 pA et le temps d’acquisition par pixel de 0,15 seconde.

(a) HAADF, (b) spectre low loss extrait du data cube d’imagerie spectrale, (c) cartes EELS de largeur d’énergie de 0,1 eV

• Application :  Spectre vibrationnel d’une molécule
  C-H ΔE: 30meV @60kV

(a) Structure du liquide ionique C2mim-TFSI, qui est composé du cation [C2mim+] et de l’anion [TFSI-].
(b) Les spectres EELS, spectres IR calculés et expérimentaux avec échelle d’énergie.

Les spectres EELS ×1, ×10 et ×250 sont affichés. Dans le spectre EELS agrandi x250, un large pic, indiqué par une flèche, apparaît à -0,4 eV. Il a été confirmé que ce pic de faible énergie correspondait aux pics vibrationnels du spectre IR (~3000 cm-1) et a été attribué aux vibrations d’étirement C-H des cations [C2mim+] à l’aide de calculs théoriques.

Échantillon du Dr Mizoguchi, Université de Tokyo

T. Miyata, et al. : (2014) dans Microscopie.

Le JEM-Z200MF est un microscope électronique doté d’une lentille objectif sans champ magnétique. Cette innovation permet une observation en haute résolution sans appliquer de champ magnétique puissant aux échantillons. Ce microscope est équipé d’un correcteur d’aberration sphériques lui permettant d’acquérir des images en résolution atomique.

La lentille objectif du JEM-Z200MF se compose de deux lentilles (FOL/BOL) situées au-dessus et au-dessous de l’échantillon. Les champs magnétiques de ces deux lentilles sont annulés au niveau du plan de l’échantillon. Cette lentille d’objectif est donc sans champ et a une courte distance focale. La courte distance focale entraîne une faible aberration chromatique et une grande stabilité globale. Un champ magnétique dans la direction Z peut être appliqué à l’échantillon à l’aide de bobines intégrées.

Le JEM-Z200MF est configuré avec un système de double correcteur Cs, ce qui permet d’obtenir des images STEM et TEM à haute résolution.

Le correcteur STEM peut fonctionner selon deux modes, l’un adapté à l’observation à haute résolution, l’autre idéal pour les études DPC à haute sensibilité.

Avec le JEM-Z200MF, il est désormais possible de basculer entre le mode CV (conventionnel) pour l’observation en champ sombre/champ clair et le mode HR (haute résolution) en appuyant sur un seul bouton.

Imagerie à contraste de phase différentiel (DPC)
Les champs électriques et magnétiques peuvent être visualisés à l’aide de la méthode DPC-STEM, qui mesure les petites déviations du faisceau dues aux champs à l’intérieur de l’échantillon à l’aide de détecteurs segmentés ou mixtes.

Observation de la distribution du champ magnétique (à température ambiante) de l’hématite antiferromagnétique en utilisant le DPC STEM (résolution atomique).
La symétrie du cristal d’hématite a été utilisée pour supprimer l’information sur le champ électrique. La distribution magnétique a été visualisée en faisant la moyenne de toutes les cellules unitaires. Les couleurs indiquent la direction et l’intensité du champ magnétique.

_{Y. Kohno et. al, Nature 602, 234 (2022)}

Système Tilt-Scan
Le JEM-Z200MF est équipé d’un système de déviation du faisceau dédié qui permet de modifier l’angle d’incidence du faisceau d’électrons. L’acquisition de plusieurs images DPC STEM à différents angles d’incidence et la superposition des images individuelles réduisent l’effet du contraste de diffraction, comme indiqué ci-dessous. (DPC STEM à balayage vertical, tDPC-STEM)

Comparaison de l’image DPC TEM de Nd2Fe14B avec et sans l’utilisation du système Tilt-Scan.
Ces images ont été observées le long de l’axe de magnétisation facile. Les flèches dans les images indiquent les positions des parois des domaines.
En utilisant le système Tilt-Scan, le contraste de diffraction causé par les précipités est fortement réduit et les limites des parois des domaines peuvent être clairement observées.

La combinaison de la lentille objectif sans champ magnétique avec un système de double correcteur permet une résolution atomique STEM dans des conditions sans champ magnétique. Le mode grand angle de convergence permet l'observation STEM avec une résolution spatiale élevée de l'ordre de 0,1 nm.

_{L'encart montre une image moyennée de la cellule unitaire du joint de grain. En corrigeant l'aberration sphérique, il devient possible d'observer les joints de grains du Fe.}

_{T. Seki et. al, « Incommensurate grain-boundary atomic structure », Nature Communications 14, 7806 (2023), Fig. 1}

_{Le cercle orange affiché correspond au transfert d'information à 1Å. L'image STEM a été formée en additionnant 30 images.}

Le mode HR permet des observations TEM à plus fort grossissement dans des conditions sans champ magnétique. Associé à un correcteur d'aberration sphérique côté image, il permet d'obtenir des images TEM résolues au niveau atomique.

Images TEM haute résolution de nanoparticules de magnétite (Fe3O4).

En corrigeant l'aberration sphérique de l'objectif, l'arrangement atomique des particules magnétiques peut être étudié.

Le JEM-Z200MF permet de relier facilement les caractéristiques physiques et magnétiques de la structure. En mode CV, le plan de diffraction est confondu avec la position du diaphragme l'objectif, ce qui permet de sélectionner facilement les caractéristiques de diffraction pour générer des images en champ clair et en champ sombre de matériaux magnétiques.

_{Les dislocations ont été introduites en déformant l'échantillon de 5 % à la température de l'azote liquide.
Les cercles jaunes indiquent les positions du diaphragme objectif. Axe de zone proche de <001>.}

_{Données fournies avec l'aimable autorisation du Prof : Kazuto Arakawa, Université de Shimane.}

Avec un MET équipé d’une lentille objectif conventionnel, il est nécessaire d'éteindre l'objectif pour observer les structures de domaines magnétiques. Avec le JEM-Z200MF et sa lentille spéciale les domaines magnétiques sont facilement observés avec l'objectif normalement excité.

_{Observation de domaines magnétiques dans un film mince de permalliage (Fe22Ni78) par la méthode de Fresnel.
Les flèches noires et blanches indiquent les positions des parois des domaines.
Fig. a : État rémanent de la couche mince de permalliage.
Fig. b-d : Un champ magnétique externe est appliqué le long de l'axe Z à l'aide des bobines génératrices de champ magnétique qui entourent la lentille objectif.}

_{Échantillon reproduit avec l'aimable autorisation du Dr : Takumi Sannomiya, Institut de technologie de Tokyo.}

Son mode de fonctionnement est le suivant : Pulse récupère le signal analogique provenant du détecteur STEM, ensuite il identifie les événements électroniques individuels et numérise le signal. Il en résulte des images d’une qualité améliorée avec un niveau de bruit réduit.

Le dispositif se connecte simplement entre votre détecteur STEM et votre système d’acquisition de données. Pulse permet d’améliorer le rapport signal/bruit de vos images STEM, en particulier dans les modes d’imagerie à faible dose ou à grande vitesse.

• Se connecte à tous les systèmes d’acquisition acceptant les entrées numériques TTL.
• Produit des images quantitatives avec un niveau de fond noir réel à zéro.
• Fonctionne avec les détecteurs existants pour l’acquisition simultanée d’images, y compris la spectroscopie.
• Comprend deux canaux pour le comptage des électrons sur deux détecteurs distincts.

En équipant un MET du processeur numérique STEM (PULSE), il devient possible d’acquérir des images STEM par comptage d’électrons au lieu du traitement analogique conventionnel du signal. Cette technique permet d’obtenir des images plus nettes et moins bruitées. Cet effet est d’autant plus visible lors de l’acquisition STEM à de faible dwell time ; il permet d’éliminer des sources majeures de bruit ainsi que les effets de luminescence résiduelle générés dans le détecteur.

L’utilisation d’un MEB FEG n’a jamais été aussi facile qu’avec la série JSM-IT810.

In-situ charging/discharging SEM for degradation monitor of ASSB (All Solid-State Battery).

L’observation MEB et l’analyse EDS peuvent être automatisées en réglant simplement les conditions d’analyse et en sélectionnant les zones à mesurer.

Nous utilisons un échantillon dédié pour effectuer l’étalonnage du grossissement, l’alignement du faisceau et l’étalonnage de l’énergie EDS. Des contrôles réguliers permettent de maintenir l’équipement dans un état optimal.

Notre détecteur BSE multi-segmenté, de type semi-conducteur, est utilisé pour créer une reconstruction 3D en direct sur la surface de l’échantillon. Vous pourrez visualisez l’image 3D en temps réel pour vérifier la topologie de l’échantillon.

L’intégration de l’EDS dans le logiciel de contrôle du microscope permet une utilisation simplifiée. Diverses méthodes d’analyse telles que les pointés, la zone, la cartographie et la ligne peuvent être sélectionnés directement sur l’écran d’observation, ce qui permet de lancer immédiatement une analyse.

Le concept est simple : Il se produit un rendement décroissant de l’information au fur et à mesure que des électrons sont détectés en chaque point lors du balayage STEM. Pour réduire cet effet, nous pouvons définir un nombre d’événements par pixel à partir duquel le faisceau sera défléchi (dans notre cas un nombre d’électrons – généralement entre 1 et 25), stoppant ainsi la collection de données. Une fois le « dwell time » du pixel atteint, nous passons au pixel suivant et appliquons la même méthode.

Dans ce nouveau paradigme d’imagerie, nommé TempoSTEM, l’intensité des pixels est définie par le temps nécessaire à la détection d’un nombre fixe d’électrons, par opposition au nombre d’électrons détectés en un temps fixe (STEM classique). L’image acquise avec TempoSTEM sera une représentation du temps nécessaire pour acquérir le nombre d’événements désiré par pixel.

Bien que cette distinction puisse sembler mineure, les implications en terme de minimisation des dommages aux échantillons sont considérables.

Images de cellules de macrophages humains acquises avec TempoSTEM. Les acquisitions ont été réalisées avec des nombres d’événements différents. Le contraste représente les valeurs du taux de diffusion.

Comparaison d’une acquisition avec et sans TempoSTEM sur un échantillon de macrophage humain. Après l’acquisition avec TempoSTEM (utilisant 3 électrons par pixel, 10 images moyennées), l’état initial de l’échantillon est préservé. L’imagerie STEM conventionnelles (10 images moyennées) dégrade l’échantillon sur lequel nous pouvons voir des dommages et des distorsions importantes.

Comparaison du contraste de l’image entre une acquisition avec TempoSTEM et une acquisition STEM conventionnelle sur un échantillon de SrTiO₃. Les deux images sont présentées en unités taux de diffusion. Les informations quantitatives offertes par TempoSTEM sont identiques aux approches conventionnelles. En choisissant un nombre d’événements réduits nous gardons un contraste identique à celui d’une image STEM conventionnelle tout en préservant l’échantillon.

La cryo-microscopie est une technique utilisée pour l’observation des molécules cellulaires et biologiques à des températures cryogéniques. Le CRYO ARM^TM 300 II intègre les dernières technologies JEOL pour la cryo-microscopie : Cold FEG, filtre en énergie Omega, système d’échange automatique des échantillons à température cryogénique…

Le CRYO ARM 300 II permet une acquisition de données à très grande vitesse en combinant le déplacement du faisceau avec un mouvement précis de la platine goniométrique. De plus, l'excellent contrôle du faisceau de ce système minimise l’aberration de coma.
Par conséquent, le vitesse d’acquisition peut être augmentée de façon importante (> 2200 films / heures) sans dégrader la qualité d'image.

En plus de l’illumination conventionnelle, le CRYO ARM 300 II dispose d'une illumination unique en « mode Koehler ». Ce mode permet de s’affranchir des franges d'interférence et élimine les dommages causés par le faisceau d'électrons aux zones non utilisées pour l'imagerie. Il vous permet d'obtenir plus d'images.

Le CRYO ARM^TM 200 intègre les dernières technologies permettant d’améliorer drastiquement le contraste des échantillons biologiques : canon à effet de champ froid, filtre en énergie placé dans la colonne, phase plate.

β galactosidase à 1,8 / 1,6 Å avec le CRYO ARM^TM 200