Microscope à balayage (MEB) à effet de champ JSM-7900F/LV

Présentation

Le JSM-7900F est le 1^er microscope électronique à balayage (MEB) haute résolution pouvant être utilisé par un scientifique qui n’a pas le temps d’apprendre la microscopie.

Le JSM-7900F combine à la fois la haute résolution en imagerie, en analyse structurale et en analyse chimique. Le Neo EngineTM, issu de cinq années de recherches JEOL, a reçu un prix de l'innovation, il gère et pilote 20 fois plus de paramètres que les fonctions automatiques des MEB actuels. Cette avancée dans le domaine de l'Intelligence Artificielle simplifie grandement l'exploitation de l'équipement et le travail de l'opérateur.

fonctions automatiques

Le JSM-7900F est également équipé d’un système de lentille pouvant entre autres : analyser des échantillons magnétiques en haute résolution, avoir une très grande profondeur de champ, produire des analyses chimiques proches du nanomètre.

Le JSM-7900F est également équipé de la lentille ACL (breveté) et d’un nouveau détecteur d’électrons rétrodiffusés.
Ne vous contentez pas de la brochure venez le tester. En une journée vous pourrez tester la flexibilité du microscope dans tous les modes : Haute Résolution à basse et haute tension, analyse chimique rapide à basse tension etc.
Grâce à la basse tension et à son mode low vacuum tous les types d’échantillons peuvent être analysés : de la biologie aux nanomatériaux.