Présentation
Le JSM-7610FPlus intègre un ensemble de détecteurs d’électrons secondaires, d’électrons rétrodiffusés, et peut être équipé avec EDS, WDS, EBSD, Cryo, Cathodo-Luminescence (CL) et bien plus. C’est le MEB haut de gamme pour les nanotechnologies, les sciences des matériaux, la biologie, la cryo-microscopie, la lithographie, et les analyses de composition. La grande chambre objet accepte des échantillons jusqu’à 200 mm de diamètre.
Le MEB FEG JEOL JSM-7610F plus combine deux technologies particulières :
- une colonne électronique avec une détection à travers la lentille (détecteurs semi-in-lens) avec un filtre en énergie pour des observations de surface a basse tension d’accélération.
- un nouveau canon à effet de champ Schottky in-lens (Haute Brillance) permettant d'obtenir de très fort courant de sonde a haute et basse tension pour l’analyse chimique rapide à haute résolution.
Ainsi, il peut atteindre l’ultra haute résolution avec une large gamme de courant de faisceau (1pA à plus de 400 nA), couvrant tous types d’applications.
Le JSM-7610F a un grandissement réel de x 1.000.000 avec une résolution de 0,8nm et une stabilité incomparable, permettant l’observation de morphologies d’extrême surface.

CARACTERISTIQUES
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