Aujourd’hui, la résolution et la performance analytique à l’échelle du nanomètre sont aussi importantes que la rapidité d’acquisition des données. Le tout nouveau microscope électronique à balayage (MEB) JSM-IT710HR est le modèle de quatrième génération de la série HR* de JEOL.  Il permet à tout utilisateur, même débutant, d’acquérir facilement des images en haute résolution.
Le JSM-IT710HR est facile d’utilisation avec des fonctions automatiques améliorées et de plus grandes performances d’observation et d’analyses.

_{* HR = haute résolution}

Voir plus loin

* en option

Réduction de la charge
Échantillon : Avec l’autorisation du Professeur Tetsuro Asakura, Department of Biotechnology and Life Science, Tokyo University of Agriculture and Technology.

Analyse de la structure cristalline
Échantillon : Avec l’autorisation du Professeur Kaneaki Tsuzaki, National Institute for Material Science (NIMS).

La fonction Simple SEM permet d’effectuer automatiquement des mesures en enregistrant plusieurs conditions à la fois.
Cette fonction améliore l’efficacité du travail de routine.

L’imagerie peut s’effectuer à un faible grossissement, grâce à la nouvelle lentille l’objectif.

Le nouveau détecteur LHSED fonctionnant en  vide partiel permet l’observation d’échantillons avec 2 modes : des images avec le signal de cathodoluminescence  ou des  images avec une information topographique.

Réglage automatique du faisceau

Le JSM-IT710HR ne nécessite pas de réglage manuel compliqué et offre un réglage automatique de la colonne électronique, de la correction de l’astigmatisme et de la mise au point exceptionnel (venez tester les automatismes en démonstration!).

Système de détection des électrons secondaires

Haute résolution et courant fort

Le canon à effet de champ Schottky du JSM-IT710HR est intégré à la lentille du condenseur pour créer de forts courants tout en conservant une petite sonde, ce qui permet une observation et une analyse en haute résolution ( caractéristique unique à JEOL).

Système de détection des électrons rétrodiffusés

Le nouveau détecteur d’électrons rétrodiffusés multi-segmenté acquiert des images d’électrons rétrodiffusés provenant de quatre directions à la fois, de sorte qu’une image 3D peut être créée et affichée en direct, en temps réel.

La fonction Zeromag facilite l’observation et l’analyse de vos échantillons en liant les images optiques aux images électronique à travers une transition parfaite!.

JEOL fabrique et vend des MEB mais aussi des systèmes EDS.
L’EDS est entièrement intégré au MEB pour simplifier le flux de travail, le fonctionnement et la gestion des données.

Le système EDS de JEOL propose un nouveau logiciel d’ analyse de phase.