La qualité d’une observation en microscopie électronique dépend avant tout de la qualité de préparation de l’échantillon. Les Cross Section Polishers de JEOL, modèles IB-19540CP et IB-19550CCP, ont été conçus pour offrir un polissage de surface et une préparation de coupes transversales d’une précision et d’une propreté inégalées. Grâce à une technologie de polissage par faisceau d’ions non focalisés (broad ion beam), ces instruments permettent d’obtenir des surfaces planes, nettes et sans déformation mécanique d’échantillons difficiles (poreux, multicouches, mous à température ambiante) que l’on ne peut pas préparer par les techniques conventionnelles. Cette technique est idéale pour les analyses structurelles et chimiques à haute résolution.

Le modèle IB-19540CP est le modèle standard, performant et polyvalent à température ambiante, tandis que le modèle IB-19550CCP ajoute un système de refroidissement avancé permettant de travailler à très basse température (jusqu’à –120 °C). Ce dernier est particulièrement adapté aux matériaux thermosensibles comme les polymères, composites ou couches minces organiques.

Les nouveaux Cross Section Polishers intègrent une interface entièrement repensée, claire et intuitive. Le contrôle de la machine se fait à l’aide d’un écran tactile ergonomique présentant les étapes sous forme de diagramme.

L’utilisateur est guidé à chaque phase du processus, de la mise en place de l’échantillon jusqu’à la fin du polissage.

Le système intègre également des fonctions connectées : la surveillance et le pilotage peuvent être réalisés à distance via un navigateur web, ce qui permet aux utilisateurs de suivre à distance plusieurs équipements en simultané au sein du laboratoire ou sur une plateforme !

Grâce à un faisceau d’ions optimisé, les Cross Section Polishers de JEOL permettent une vitesse de polissage élevé, jusqu’à 1 200 µm par heure (équivalent silicium). Cette vitesse de traitement réduit considérablement les temps de préparation tout en assurant une coupe d’une homogénéité remarquable.

Le modèle cryogénique IB-19550CCP est doté d’un dispositif de refroidissement intégré qui permet de maintenir la température de l’échantillon jusqu’à –120 °C pendant plus de 8 heures avec seulement 2 litres d’azote liquide. Ce système, entièrement automatisé, comprend également une fonction de remontée progressive à température ambiante à la fin du processus. Le polissage à basse température est essentiel pour la préparation des matériaux susceptibles de fondre ou se déformer, tels que les polymères, résines, films organiques ou échantillons hydratés.

Chaque détail du design a été pensé pour faciliter l’usage quotidien. Les différents types de supports permettent de traiter une grande variété de formes et de tailles, qu’il s’agisse de poudres, de tranches ou d’échantillons massifs. Les échantillons préparés peuvent ensuite être directement transférés sur les platines des MEB JEOL, garantissant une compatibilité totale et un gain de temps précieux dans le flux de travail.

Le système intègre également un support spécifique permettant le dépôt de carbone directement dans la chambre du Cross Section Polisher, sans transfert vers un métalliseur externe. Cette fonctionnalité unique offre la possibilité de réaliser un revêtement conducteur fin et homogène, de très grande qualité, après la préparation de la coupe, réduisant ainsi le risque de contamination ou d’altération de la surface.

Le système fonctionne de manière stable et silencieuse, répondant aussi bien aux exigences des laboratoires de recherche qu’aux environnements industriels.

Les Cross Section Polishers trouvent leur place dans de nombreux domaines d’application :

• études de couches minces et de revêtements multicouches,

• caractérisation d’interfaces métal / céramique,

• observation de matériaux fragiles (polymères, composites, matériaux poreux),

• analyses de dispositifs électroniques, semi-conducteurs, batteries, MEMS,

• études de corrosion, de dépôts ou de fractures,

• préparation des analyses EBSD ou AFM nécessitant une surface parfaite,

• préparation d’échantillons sensibles à l’échauffement ou mou à température ambiante,

En éliminant les contraintes mécaniques des méthodes de coupe traditionnelles, les systèmes IB-19540CP et IB-19550CCP garantissent des surfaces d’observation parfaitement planes, idéales pour la microscopie haute résolution et les analyses chimiques et d’orientation cristalline.

L’utilisateur peut enregistrer ses paramètres favoris, créer des profils personnalisés selon les types de matériaux et accéder à ses réglages à tout moment rapidement. Le pilotage à distance, la surveillance en temps réel grâce à la caméra intégrée et la traçabilité des conditions de polissage renforcent la reproductibilité des analyses.

Depuis plus de 70 ans, JEOL conçoit des instruments de pointe au service de la recherche et de l’innovation. Les Cross Section Polishers incarnent cette expertise : des machines robustes, performantes et intuitives, conçues pour simplifier la préparation des échantillons les plus exigeants.

Que vous travailliez sur des matériaux conducteurs, isolants ou sensibles, les IB-19540CP et IB-19550CCP vous garantissent des résultats fiables, constants et sans artefacts, tout en réduisant les temps de préparation et la dépendance à l’opérateur.

Les Cross Section Polishers JEOL IB-19540CP et IB-19550CCP représentent la solution idéale pour toute structure de recherche ou industrie nécessitant une préparation d’échantillons rapide, propre et reproductible. Leur combinaison unique de performance, simplicité d’utilisation, connectivité et contrôle thermique en fait une référence incontournable dans le domaine de la préparation d’échantillons pour la microscopie électronique.

La demande pour des appareils permettant de révéler la complexité des nanomatériaux dans leur structure 3D a conduit JEOL à développer ce nouveau multibeam : JIB-4700F. Les axes de développement se sont concentrés autour de la préparation rapide de lames MET, de l’analyse 3D de la nano-structure de tout type de matériaux et de l’érosion de formes géométriques variables.

Le JIB-4700F possède une lentille objectif ultra-conique permettant d’atteindre une résolution de 1,6 nm à 1 keV (résolution calculée par séparation de deux particules d’or : ‘gap method’ par opposition à ‘edge method’). Grâce au canon FEG IN-LENS (brevet JEOL), des courants très importants (300 nA avec une image à la clé !) dans une petite taille de sonde permettent d’explorer les limites spatiales de L’EDS et de l’EBSD en 3D. La nouvelle colonne FIB à ions gallium permet de focaliser une sonde, avec un courant allant jusqu’à 90 nA, pour les procédés ultra-rapide de fabrication ionique de piliers ou de lames minces.

Le dernier axe de développement est la robustesse de ce FIB. En effet, son design a été optimisé pour garantir une stabilité et une fiabilité accrues lors des procédés FIB & MEB.

• Tomographie 3D (BEI, EDS, EBSD).
• Haute résolution en imagerie FIB et MEB.
• Très fort courant pour acquisition rapide de données en FIB et en MEB, pas de compromis !
• Détection simultanée.
• Polyvalent : EDS, EBSD, CRYO, cellule de transfert pour échantillons sensibles à l’air.
• Préparation automatique de lames minces pour le MET.

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.