Une classe innovante de microscopes électroniques en transmission

Le F2 est équipé de la nouvelle génération de cathode froide (Flash & Go) développée sur les derniers ARM. Cette source procure une brillance, une taille de sonde, une dispersion énergétique et une durée de vie, très supérieure à celle d’une source Schottky.

Cet angle solide est le double de ce qui se fait de mieux à l’heure actuelle sur les MET corrigés et non corrigés. Il permet de travailler avec des courants très faibles, sur des échantillons sensibles, de réaliser des cartographies en quelques secondes, de travailler sur les éléments légers et de réaliser des cartographies atomiques.

JEOL a apporté un soin particulier à ne pas opposer le beau au fonctionnel. Mais à accorder de l’importance à l’expérience sensorielle et donc au plaisir quotidien de travailler avec un bel outil, le F2, en joignant l’utile à l’agréable. Cette réflexion esthétique a été menée de concert avec un renforcement des stabilités électriques et mécaniques nécessaires à l’obtention des hautes résolutions avec une cathode froide.
De plus, un effort très important a été réalisé sur l’ergonomie afin de rendre ce MET accessible au plus grand nombre.

Ces quatre lentilles permettent avec une grande souplesse de gérer l’angle de convergence et la taille de la sonde. Une liberté totale est laissée au scientifique pour réaliser en TEM/STEM, champ sombre, les expériences les plus singulières.

Le F2 incorpore un nouveau système de balayage capable de balayer le faisceau en mode image. Ce système permet également de réaliser du STEM/EELS en mode faible grandissement.

Le F2 utilise une platine permettant de piloter la platine avec des pas de l’ordre du picomètre. Cette platine peut grâce à une vitesse de déplacement asservie, se mouvoir rapidement à faible grandissement et plus finement à fort grandissement permettant un déplacement aisé en toutes circonstances.

L’insertion/rétraction du porte-objet se fait automatiquement, supprimant ainsi le risque d’entrée d’air et donc d’un éventuel endommagement du microscope. L’angoisse de l’insertion et de la rétractation appartient au passé.

Le F2 incorpore un dispositif ECO lui permettant de minimiser son impact carbone et de réduire la facture par une consommation 5 fois inférieure à un MET de génération précédente. Cette fonction est programmable.

JEOL a développé une cartouche de transfert entre le FIB et le MET ainsi qu’un porte-échantillon TEM dédié qui facilitent le lien entre les opérations MET et FIB.
La cartouche se transfère facilement entre le porte-échantillon FIB et le porte-échantillon TEM d’une simple pression, ce qui élimine la nécessité de manipuler une lamelle TEM après le traitement.

> FIB et MEB-FIB à double colonne

Canon Cold FEG amélioré
Analyse de l’état des liaisons chimiques des allotropes de carbone par EELS

Échantillon de carbone allotrope

Le Cryo F2 a été développé pour répondre aux attentes de la plupart des chercheurs travaillant dans le domaine de la biologie, que ce soit pour l’imagerie, la tomographie, SPA ou bien la microscopie corrélative.

La cathode froide est la seule source d’électrons qui permette d’allier une petite taille de sonde, une importante brillance, et une très faible dispersion en énergie, le tout sans compromis.
Le F2 permet d’intégrer une très grande variété de périphériques : caméras (CCD, CMOS, détection directe…), EDS à très large angle solide, EELS, précession, porte-objet in-situ (cryo, gaz, chauffant, liquide…). Sa consommation est 5 fois inférieure à celle d’un MET à source Schottky.

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Le JEM-2100Plus dispose d’une platine goniomètrique à haute stabilité, spécialement optimisée pour les applications de tomographie. La suite logicielle JEOL TEMography permet d’acquérir automatiquement toute une série d’images en mode MET ou STEM. Le module de reconstruction calcule automatiquement la reconstruction 3D, le module de visualisation 3D permet de visualiser l’image sur une variété d’axes. Le contrôle nanométrique X / Y piézo complètera une configuration avancée.

Le JEM-2100Plus dispose de trois lentilles condenseur indépendantes et produit une sonde dense suivant la taille sélectionnée. Cet atout permet d’améliorer les capacités d’analyse et de diffraction. Le système breveté JEOL Alpha Selector permet à un utilisateur le choix d’une variété de conditions d’illumination, depuis le mode faisceau convergent à l’illumination parallèle. Grâce à sa seconde lentille objectif, la microscopie de Lorentz est une fonction standard de ce microscope. Un diaphragme objectif amovible haut contraste équipe chaque modèle de pièce polaire. Une fois introduit, il offre un bon contraste et permet de pouvoir réaliser des analyses EDS.
Pour compléter les capacités analytiques du JEM-2100Plus un diaphragme de coupure des rayons X « Durs » est placé juste au-dessus de la lentille objectif. Les spectres ne sont plus entachés de pics parasites.

Les microscopes électroniques en transmission (MET) d’une tension d’accélération de 120 kV sont largement utilisés dans les domaines de la biologie et des polymères. Nous avons récemment mis au point le JEM-120i selon le concept « compact », « facile à utiliser » et « évolutif ». Avec son nouveau design, cet MET est un instrument que tout le monde peut utiliser facilement, et ce de l’utilisation jusqu’à l’acquisition de données en passant par la maintenance.

Grâce à la réduction drastique de sa taille, le JEM-120i occupe moins de place que son prédécesseur le JEM-1400Flash. De par sa taille réduite (1,782 m), il est plus facile d’introduire le porte-objet et de changer le filament. Son nouveau design intègre une « cartouche filament » qui simplifie le changement de ce dernier et ce en toute sécurité.

L’instrument est doté d’un voyant LED sur sa face avant, dont la couleur change en fonction de mode de fonctionnement du MET. Vous pouvez savoir rapidement dans quel mode se trouve votre MET.

Observation des échantillons simplifiée

Il ne faut que 4 étapes entre le chargement d’un spécimen et la fin de l’observation. Après avoir inséré le porte-échantillon, il suffit de cliquer sur le bouton « Start » et le logiciel exécute automatiquement les opérations de préparatoires à l’observation de l’échantillon, telles que l’ajustement de la haute tension et le démarrage de l’émission. Une image de la zone d’intérêt à faible grandissement est acquise et servira de d’image de navigation. Ainsi, en cliquant sur la région d’intérêt, la platine se déplace jusqu’à la position sélectionnée.

Le « mode Butler » facilite l’acquisition des données, permettant à tout utilisateur, quel que soit son niveau, d’acquérir facilement des données. Une fois l’observation terminée, vous pouvez changer le porte-échantillon tout en gardant l’émission allumée.

Le JEM-120i est équipé d’un système de contrôle amélioré et de diaphragmes entièrement automatisés, ce qui simplifie son utilisation. Les observations peuvent être effectuées plus facilement qu’avec les modèles précédents.

Le JEM -120i est un microscope qui peut être équipé de nombreux accessoires lors de sa configuration et aussi après, permettant ainsi de le faire évoluer pour répondre au mieux à vos besoins.

Ce microscope donne un accès rapide à l’imagerie, la diffraction et l’analyse chimique EDS dont vous avez besoin pour l’analyse des fibres d’amiantes.

La caméra CMOS NeoView, installée sur le JEM-120i Amiante META, offre une visualisation instantanée des échantillons ainsi qu’une acquisition d’images en haute résolution. Grâce à cette intégration standard, l’utilisateur bénéficie d’une observation précise et rapide, facilitant ainsi l’analyse des fibres d’amiantes. Vous pourrez ainsi visualiser rapidement vos échantillons, acquérir et sauvegarder vos images facilement.

Vous pourrez ainsi visualiser rapidement vos échantillons, acquérir et sauvegarder vos images facilement.

Ce nouveau MET a été développé pour optimiser la production et le rendement. Pour ce faire, il repose sur 3 concepts : « compact », « facile à utiliser » et « évolutif ». Avec son nouveau design, ce MET est un instrument que tout le monde peut s’approprier facilement, et ce de l’utilisation jusqu’à l’acquisition de données tout en proposant une maintenance rapide et minimaliste.

Ce microscope donne un accès rapide à l’imagerie, la diffraction et l’analyse chimique EDS dont vous avez besoin pour l’analyse des fibres d’amiantes.

Pour cette nouvelle génération de MET 120kV, JEOL a porté une attention toute particulière à son nouveau design. La réduction significative de la taille du microscope permet d’occuper beaucoup moins de place au sol. Ce qui permet d’optimiser l’espace de travail.

• L’ergonomie du microscope a été réinventée : l’espace pour les jambes a été adapté, les pupitres de commandes ont été simplifiés et sont personnalisables, l’interface graphique a été repensée pour être encore plus conviviale.

• La nouvelle caméra de visualisation/acquisition NeoView développée par JEOL allie une très grande vitesse de lecture (30 fps) à une grande sensibilité. Elle vous permettra de faire des acquisitions d’images MET et de diffraction extrêmement facilement et rapidement.
• La caméra NeoView est compatible avec le logiciel JEOL d’analyse amiante : Asbestos Map.
• Le mode « Butler » facilite l’acquisition des données, permettant à tout utilisateur, quel que soit son niveau, d’acquérir facilement des données. Une fois l’observation terminée, vous pouvez changer le porte-échantillon tout en gardant l’émission allumée.

• Maintenance rapide et minimaliste : Un nouveau système de filament permet son échange rapidement et facilement, vous permettant de réduire le temps de maintenance.

• Le JEM-120i META est équipé de diaphragmes entièrement automatisés.
• Le JEM-120i META intègre également en option un module à balayage numérique STEM.
 Ce dernier permettra d’obtenir des images HAADF et champ clair qui apporteront une information supplémentaire tant en tomographie qu’en observation classique. Le couplage avec l’EDS JEOL fournira une cartographie chimique des éléments constituant l’échantillon.

Une caméra CMOS à haute sensibilité qui permet d’acquérir des images/diffraction en très haute résolution.

Toute la gamme de porte-objets des modèles JEM-1400 est compatible avec le JEM-120i.