Présentation
JEOL Ltd. (Président Gon-emon Kurihara) annonce le lancement d’une nouvelle classe innovante de microscopes électroniques en transmission : les MET non-corrigés 20-200keV multifonctions à cathode froide.
Les besoins et les exigences des scientifiques grandissant sans cesse, JEOL continue de développer ses équipements pour répondre au mieux à leurs besoins. Fort de son expérience sur le développement de la cathode froide pour sa gamme de microscopes corrigés ARM, JEOL a décidé de proposer un nouveau TEM non-corrigé intégrant sa fameuse cathode froide.
En effet, la cathode froide est la seule source d’électrons qui permette d’allier une petite taille de sonde, une importante brillance, et une très faible dispersion en énergie, le tout sans compromis.
Le F2 permet d’intégrer une très grande variété de périphériques : caméras (CCD, CMOS, détection directe…), EDS à très large angle solide, EELS, précession, porte-objet in-situ (cryo, gaz, chauffant, liquide…)
A l’heure de la 21ème conférence sur le climat il était impératif d’introduire dans le cahier des charges un impact carbone minime. C’est chose faite avec une consommation 5 fois inférieure à celle d’un MET à source Schottky.
(environ 4 min.)
Principales caractéristiques
Cathode Froide (Improved Cold FEG)
Le F2 est équipé de la nouvelle génération de cathode froide (Flash & Go) développée sur les derniers ARM. Cette source procure une brillance, une taille de sonde, une dispersion énergétique et une durée de vie, très supérieure à celle d’une source Schottky.
DUAL EDS (1,7srd)
Cet angle solide est le double de ce qui se fait de mieux à l’heure actuelle sur les MET corrigés et non corrigés. Il permet de travailler avec des courants très faibles, sur des échantillons sensibles, de réaliser des cartographies en quelques secondes, de travailler sur les éléments légers et de réaliser des cartographies atomiques.
Un Look !
JEOL a apporté un soin particulier à ne pas opposer le beau au fonctionnel. Mais à accorder de l’importance à l’expérience sensorielle et donc au plaisir quotidien de travailler avec un bel outil, le F2, en joignant l’utile à l’agréable. Cette réflexion esthétique a été menée de concert avec un renforcement des stabilités électriques et mécaniques nécessaires à l’obtention des hautes résolutions avec une cathode froide.
De plus, un effort très important a été réalisé sur l’ergonomie afin de rendre ce MET accessible au plus grand nombre.
Quatre lentilles condenseur
Ces quatre lentilles permettent avec une grande souplesse de gérer l’angle de convergence et la taille de la sonde. Une liberté totale est laissée au scientifique pour réaliser en TEM/STEM, champ sombre, les expériences les plus singulières.
Advanced Scan system (option)
Le F2 incorpore un nouveau système de balayage capable de balayer le faisceau en mode image. Ce système permet également de réaliser du STEM/EELS en mode faible grandissement.
Platine Pico
Le F2 utilise une platine permettant de piloter la platine avec des pas de l’ordre du picomètre. Cette platine peut grâce à une vitesse de déplacement asservie, se mouvoir rapidement à faible grandissement et plus finement à fort grandissement permettant un déplacement aisé en toutes circonstances.
SPECPORTER (introduction automatique du porte objet)
L’insertion/rétraction du porte-objet se fait automatiquement, supprimant ainsi le risque d’entrée d’air et donc d’un éventuel endommagement du microscope. L’angoisse de l’insertion et de la rétractation appartient au passé.
ECO Responsable
Le F2 incorpore un dispositif ECO lui permettant de minimiser son impact carbone et de réduire la facture par une consommation 5 fois inférieure à un MET de génération précédente. Cette fonction est programmable.
CARACTERISTIQUES
Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.
ACTUALITÉ
