Description du projet

Présentation

Le JSM-IT200 un plaisir quotidien
Le JSM-IT200 est le microscope électronique à balayage le plus simple au monde. Vous pouvez observer vos échantillons de l’échelle macro (image par une caméra couleur) à l’échelle nano avec une analyse chimique en temps réel. Les fonctions automatiques vous permettent de prendre une image, acquérir un spectre et éditer un rapport en un nombre record de clics.

Ce nouveau MEB à un prix très attractif est destiné à tous les niveaux d’utilisateurs.

Outre les performances en résolution, notamment à basse tension (1keV) pour obtenir une information d'extrême surface, ce MEB analytique intègre 3 fonctionnalités uniques :

"Navi" : un guide pour l’observation, de l’introduction de l’échantillon à l’édition du rapport

Un guide qui vous emmène pas à pas, de l’introduction de l’échantillon, aux conditions opératoires, à l’acquisition automatique d’images.

"Zeromag" : observation instantanée !

Les caractéristiques de la fonction Zeromag

Image ‘ Zeromag’ affichée sur l’écran principale

Analyse élémentaire instantanée !

Le spectre de rayons x caractéristique des éléments contenus dans l’échantillon analysé est affiché durant l’observation en temps réel (unique !).

Poste d'observation

Création en un clic d’un rapport grâce à SMILE VIEW™ Lab : Logiciel de gestion de données

SMILE VIEW™ Lab

*1 Pour prendre une image couleur CCD, l'option SNS est requise.
*2 Version LA (Low Vacuum + analyse EDS).

CARACTERISTIQUES

de x5 à x1,600,000

Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
Détecteur d'électrons rétrodiffusés:Type NIP (Brevet JEOL)

Goniométrique eucentrique
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°

Jusqu'à 200 mm de diamètre

Au choix : PC portable ou ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready

SDD intégré (Dans la version "LA")

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Télécharger la note d'application

What is magnification ?

Webinaires

PA3 - Particle Analysis in SEM with JEOL SEM/EDS (August 3, 2021)
‌‌Dedicated software automates detection and EDS analysis of particles, inclusions or grains and classifies this information based on shape and composition. Compatible across our SEM product line for micro to nano scale solutions.
Principles of Scanning Electron Microscopy - An Overview
‌‌The primary focus of this seminar is to explain the basics of SEM and EDS and the associated benefits thereof.

En savoir plus

Lancement du nouveau microscope à balayage JSM-IT200 InTouchScope™

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