Description du projet

Présentation

Le microscope électronique JEM-2100Plus fournit des solutions pour un large éventail de problématiques dans les domaines des matériaux, la nanoélectronique et les sciences biologiques.

Le JEM-2100Plus est intuitif, facile à utiliser avec des fonctions de contrôle à distance. Le système de contrôle avancé permet l'intégration du STEM HAADF, EDS et EELS.

Le JEM-2100Plus dispose d'une platine goniomètrique à haute stabilité, spécialement optimisée pour les applications de tomographie. La suite logicielle JEOL TEMography™ permet d'acquérir automatiquement toute une série d'images en mode MET ou STEM. Le module de reconstruction calcule automatiquement la reconstruction 3D, le module de visualisation 3D permet de visualiser l'image sur une variété d'axes. Le contrôle nanométrique X / Y piézo complètera une configuration avancée.

Le JEM-2100Plus dispose de trois lentilles condenseur indépendantes et produit une sonde dense suivant la taille sélectionnée. Cet atout permet d'améliorer les capacités d'analyse et de diffraction. Le système breveté JEOL Alpha Selector™ permet à un utilisateur le choix d'une variété de conditions d'illumination, depuis le mode faisceau convergent à l'illumination parallèle. Grâce à sa seconde lentille objectif, la microscopie de Lorentz est une fonction standard de ce microscope. Un diaphragme objectif amovible haut contraste équipe chaque modèle de pièce polaire. Une fois introduit, il offre un bon contraste et permet de pouvoir réaliser des analyses EDS.
Pour compléter les capacités analytiques du JEM-2100Plus un diaphragme de coupure des rayons X "Durs" est placé juste au-dessus de la lentille objectif. Les spectres ne sont plus entachés de pics parasites.

CARACTERISTIQUES

Ultra Haute Résolution (UHR)
Image point par point : 0.19nm
Image réseau : 0.14 nm

Haute Résolution (HR)
Image point par point : 0.23 nm
Image réseau : 0.14 nm

Haute Inclinaison (HT)
Image point par point : 0.25 nm
Image réseau : 0.14 nm

Cryo (CR)
Image point par point : 0.27 nm
Image réseau : 0.14 nm

Haut contraste (HC)
Image point par point : 0.31 nm
Image réseau : 0.14 nm

80, 100, 120, 160, 200 kV, possibilité de descendre en dessous des 80 kV.
Pas minimum : 50 V

Tension d'accélération : 2×10–6/min

Courant objectif : 1×10–6/min

Ultra Haute Résolution (UHR)
Longueur Focale : 1.9 mm
Cs : 0.5 mm
Cc : 1.1 mm
Pas minimum : 1.0 nm

Haute Résolution (HR)
Longueur Focale : 2.3 mm
Cs : 1.0 mm
Cc : 1.4 mm
Pas minimum : 1.5 nm

Haute Inclinaison (HT)

Longueur Focale : 2.7 nm
Cs : 1.4 mm
Cc : 1.8 mm
Pas minimum : 1.8 nm

Cryo (CR)
Longueur Focale : 2.8 mm
Cs : 2.0 mm
Cc : 2.1 mm
Pas minimum : 2.0 nm

Haut contraste (HC)
Longueur Focale : 3.9 mm
Cs : 3.3 mm
Cc : 3.0 mm
Pas minimum : 5.2 nm

Mode TEM :
diamètre de 20 à 200 (UHR, HR, HT, CR)
diamètre de 1 à 5 µm (HC)

Mode EDS, Mode NBD, Mode CBD :
0.5 à 25 nm diamètre sélecteur alpha (UHR)
1.0 à 25 nm diamètre sélecteur alpha (HR)
1.5 à 35 nm diamètre sélecteur alpha (HT)
2.0 à 45 nm diamètre sélecteur alpha (CR)
diamètre de 10 à 500 nm (HC)

Acceptance angle : 1.5 à 20 mrad ou plus
±10°

Mode Mag :
×2000 à 1,500,000 (UHR, HR)
×1500 à 1,200,000 (HT)
×1200 à 1,000,000 (CR)
×1000 à 800,000 (HC)

Mode LOW Mag :
×50 à 6000 (UHR, HR, HT, CR)
×50 à 2000 (HC)

Mode SA Mag :
×8000 à 800,000 (UHR, HR)
×6000 à 600,000 (HT)
×5000 à 600,000 (CR)
×5000 à 400,000 (HC)

SA diff. :
80 à 2000 mm (UHR, HR)
100 à 2500 mm (HT)
100 à 2500 mm (CR)
150 à 3000 mm (HC)

HD diff. : 4 à 80 m

HR diff.* : 333 mm

* La chambre diffraction haute résolution 36 mm est requise.

Angle d'inclinaison :
±30° (UHR)
±35° (HR)
±45° (HT)
±60°* (CR)
±30° (HC)

Débattement :
2 mm (X,Y) - 0.2 mm (Z±0.1 mm) (UHR),
2 mm (X,Y) - 0.4 mm (Z±0.2 mm) (HR, HT, CR, HC)

* EDS optionnel requis

Angle d'azimut :
 25° (UHR, HR, HT, CR)
 20 ° (HC)

La configuration doit être définie à la commande.
Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Télécharger les ressources

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