Description du projet

Présentation

Le JEM-1400Flash est un microscope électronique en transmission compacte à hautes performances et très simple d'utilisation.

Son image combine la haute résolution et un excellent contraste en un seul et même mode. Le JEM-1400FLASH est un appareil polyvalent permettant à la fois de faire de la cryo-microscopie, de la tomographie, de l'analyse chimique, etc. Cet appareil est l'équipement de référence pour les sciences du vivant, les polymères, les matériaux et l'analyse d'amiante.

Pour cette nouvelle génération de MET 120kV, JEOL a porté une attention toute particulière à la facilité et au confort d’utilisation en optimisant aussi bien la partie matériel que la partie logiciel :

  • La nouvelle caméra sCMOS développée par JEOL : Matataki Flash allie très grande vitesse de lecture (30 images par seconde en pleine résolution) et grande sensibilité. Elle vous permettra de faire des acquisitions d’images TEM extrêmement facilement et rapidement.
  • La nouvelle fonction logiciel « Limitless Panorama (LLP) » incluse avec le 1400FLASH vous donnera la possibilité de réaliser automatiquement un montage, c’est à dire d’acquérir un ensemble d’images adjacentes et de les combiner. Ce système gère le déplacement du goniomètre et permet donc de faire des montages sur de très grandes zones (toute la grille) avec une très grande résolution. Face à l’ampleur des donnés, un système d’affichage intelligent permet de ne pas saturer le PC.
  • Grâce à « Picture Overlay », la microscopie corrélative n’aura jamais été aussi aisée. Picture Overlay permet de superposer en temps réel sur l’image TEM une image d’optique ou de fluorescence.
  • L’ergonomie du microscope a été améliorée : l’espace pour les jambes a été adapté, les pupitres de commandes ont été simplifiés et sont personnalisables et l’interface graphique a été revue. Le JEM-1400Flash intègre également en option un module à balayage numérique STEM.
    Ce dernier permettra d'obtenir des images HAADF et champ clair qui apporteront une information supplémentaire tant en tomographique qu'en observation classique. Le couplage avec l'EDS JEOL fournira une cartographie chimique des éléments constituant l'échantillon.

CARACTERISTIQUES

Haut Contraste (HC) et STEM
Image en réseau : 0,20 nm
Image point par point : 0,38 nm

Tungstène ou LaB6

Pas (5) : 10 - 120 kV
Pas variables : 33 V de pas minimum
Stabilité : 2 x 10-6/min.

Haut Contraste (HC) et STEM
sans photomontage
Mode Mag : x200 - 1,200,000
Mode Low Mag : x10 (2 mm visible en totalité) - 1,000
Mode SA Mag : x2,000 - 300,000

Haut Contraste (HC)
2 étages

STEM
3 étages (double)

moteurs micro pas à complément Piezo électrique possible

Haut Contraste (HC) et STEM
Nombre d'échantillons par insertion : 1
Angle d'inclinaison de l'échantillon : ±25° (±70° avec P/O haute inclinaison)

Direction X : ±1,0 mm
Direction Y : ±1,0 mm
Direction Z : ±0,5 mm

La colonne peut être étuvée, afin d'améliorer le niveau de vide au cours de la vie du microscope et d'éliminer la contamination sur l'échantillon.

Caméra intégrée JEOL avec les fonctions de : photomontage, correction de dérive, Limit Less Panorama, stage navigation etc.

JEOL peut intégrer des caméras de différents constructeurs,
nota : La configuration doit être définie à la commande.

Le specifiche di questo prodotto possono cambiare senza preavviso.

Télécharger la note d'application

High resolution TEM by JEM-1400Flash

GALERIE